[实用新型]一种电容外观不良检测装置有效

专利信息
申请号: 201521001981.8 申请日: 2015-12-05
公开(公告)号: CN205246560U 公开(公告)日: 2016-05-18
发明(设计)人: 曾宪忠;张成伟 申请(专利权)人: 万年县佳辉电子科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 335500 江西省上饶*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 实用新型涉及一种电容外观不良检测装置,包括套管检测光电机构、固定支架,所述套管检测光电机构由一只耐温光纤和光纤处理器组成,所述耐温光纤固定在所述固定支架上,所述耐温光纤正对待检测电容的圆柱面并留有一定间隙,所述固定支架固定在铝电容套管机的套管不良检测工位的凸轮架上。本实用新型可以完好的在设备上检测出待检测电容的偏极和装反胶管不良,避免生产过程中因操作失误、设备故障等原因生产出大量的不良品,减少了返工浪费,既降低员工的工作强度,又节约了生产成本。
搜索关键词: 一种 电容 外观 不良 检测 装置
【主权项】:
一种电容外观不良检测装置,其特征在于:包括套管检测光电机构、固定支架,所述套管检测光电机构由一只使用耐温在200℃以上的耐温光纤和光纤处理器组成,所述耐温光纤固定在所述固定支架上,所述耐温光纤正对待检测电容的圆柱面并留有一定间隙,所述固定支架固定在铝电容套管机的套管不良检测工位的凸轮架上。
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