[实用新型]一种电容外观不良检测装置

权利要求书

1.一种电容外观不良检测装置，其特征在于：包括套管检测光电机构、固定支架，所述套管检测光电机构由一只使用耐温在200℃以上的耐温光纤和光纤处理器组成，所述耐温光纤固定在所述固定支架上，所述耐温光纤正对待检测电容的圆柱面并留有一定间隙，所述固定支架固定在铝电容套管机的套管不良检测工位的凸轮架上。

2.根据权利要求1所述的电容外观不良检测装置，其特征在于：所述耐温光纤的型号为PG-420。

3.根据权利要求1所述的电容外观不良检测装置，其特征在于：所述固定支架上设有跑道槽，所述固定支架通过螺栓和跑道槽固定在铝电容套管机的套管不良检测工位的凸轮架上，可以上下调节所述固定支架的高度。

4.根据权利要求1所述的电容外观不良检测装置，其特征在于：所述固定支架上设有M4的内螺纹孔，所述耐温光纤为M4的耐温光纤，所述耐温光纤通过螺纹和锁紧螺母固定在所述固定支架上，可以调节所述套管检测光电机构与待检测电容之间的间隙。

5.根据权利要求1所述的电容外观不良检测装置，其特征在于：所述凸轮架是电容套管机的套管不良检测工位的第一个凸轮架。