[实用新型]大电流半导体测试座有效
| 申请号： | 201520964781.6 | 申请日： | 2015-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN205139319U | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 蒋卫兵;贺涛;王传刚;赵康 | 申请（专利权）人： | 法特迪精密科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 张欢勇 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种大电流半导体测试座，包括探针保持板、芯片插座主体及探针，所述芯片插座主体与探针保持板上下对应且相互平行，芯片插座主体的两端各设置主体插孔，所述探针保持板的两端各设置有与主体插孔数量一致且一一对应的保持板插孔，每个主体插孔与其对应的保持板插孔形成上端孔径大于下端孔径的阶梯状通孔，所述探针的形状与阶梯状通孔配合，且能插入所述阶梯状通孔，所述探针的上端面设置有待测芯片的管脚接触槽。本实用新型解决传统的探针接触技术，通过改探针外部接触为内部接触，用探针的内部与在芯片管脚外部接触，从而增加接触面积，减少接触电阻，增加承载能力，从而达到满足承载大电流的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 电流 半导体 测试 | ||
【主权项】：
一种大电流半导体测试座，包括探针保持板、芯片插座主体及探针，其特征在于：所述芯片插座主体与探针保持板上下对应且相互平行，芯片插座主体的两端各设置主体插孔，所述探针保持板的两端各设置有与主体插孔数量一致且一一对应的保持板插孔，每个主体插孔与与其对应的保持板插孔形成上端孔径大于下端孔径的阶梯状通孔，所述探针的形状与阶梯状通孔配合，且能插入所述阶梯状通孔，所述探针的上端面设置有待测芯片的管脚接触槽。
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