[实用新型]大电流半导体测试座有效
| 申请号： | 201520964781.6 | 申请日： | 2015-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN205139319U | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 蒋卫兵;贺涛;王传刚;赵康 | 申请（专利权）人： | 法特迪精密科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 张欢勇 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电流 半导体 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种大电流半导体测试座，包括探针保持板、芯片插座主体及探针，其 特征在于：所述芯片插座主体与探针保持板上下对应且相互平行，芯片插座主 体的两端各设置主体插孔，所述探针保持板的两端各设置有与主体插孔数量一 致且一一对应的保持板插孔，每个主体插孔与与其对应的保持板插孔形成上端 孔径大于下端孔径的阶梯状通孔，所述探针的形状与阶梯状通孔配合，且能插 入所述阶梯状通孔，所述探针的上端面设置有待测芯片的管脚接触槽。
2.根据权利要求1所述的大电流半导体测试座，其特征在于：所述探针保 持板与芯片插座主体通过螺钉固定。
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