[实用新型]测试芯片电源可靠性的装置

摘要

本实用新型公开了一种测试芯片电源可靠性的装置，涉及电源性能的测试装置技术领域。所述装置串联在芯片供电回路上，包括第一金属连接件、第二金属连接件和可变电子负载，所述可变电子负载的两端并联有电压传感器，所述第一金属连接件、可变电子负载以及第二金属连接件构成的导电支路上设有电流传感器，所述电压传感器和电流传感器通过信号处理电路与微处理器的信号输入端连接，人机交互模块与所述微处理器进行双向连接，用于输入和显示数据。所述装置能够对为芯片提供供电电源的电源模块进行测试，找出供电模块的薄弱环节，提高电源模块的可靠性。

主权项

一种测试芯片电源可靠性的装置，所述装置串联在芯片供电回路上，其特征在于：所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一金属连接件(1)、用于连接供电电源的第二金属连接件(2)，以及一端与第一金属连接件(1)电连接，另一端与第二金属连接件(2)电连接的可变电子负载(3)，所述可变电子负载(3)的两端并联有电压传感器(4)，所述第一金属连接件(1)、可变电子负载(3)以及第二金属连接件(2)构成的导电支路上设有电流传感器(5)，所述电压传感器(4)和电流传感器(5)通过信号处理电路(6)与微处理器(7)的信号输入端连接，人机交互模块(8)与所述微处理器(7)进行双向连接，用于输入和显示数据。