[实用新型]测试芯片电源可靠性的装置

权利要求书

1.一种测试芯片电源可靠性的装置，所述装置串联在芯片供电回路上，其特征在于：所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一金属连接件(1)、用于连接供电电源的第二金属连接件(2)，以及一端与第一金属连接件(1)电连接，另一端与第二金属连接件(2)电连接的可变电子负载(3)，所述可变电子负载(3)的两端并联有电压传感器(4)，所述第一金属连接件(1)、可变电子负载(3)以及第二金属连接件(2)构成的导电支路上设有电流传感器(5)，所述电压传感器(4)和电流传感器(5)通过信号处理电路(6)与微处理器(7)的信号输入端连接，人机交互模块(8)与所述微处理器(7)进行双向连接，用于输入和显示数据。

2.根据权利要求1所述的测试芯片电源可靠性的装置，其特征在于：所述可变电子负载(3)为可变电阻。

3.根据权利要求1所述的测试芯片电源可靠性的装置，其特征在于：所述人机交互模块(8)为触摸屏。

4.根据权利要求1所述的测试芯片电源可靠性的装置，其特征在于：所述人机交互模块(8)为与微处理器(7)的信号输入端连接的按键模块和与微处理器(7)的信号输出端连接的显示模块。

5.根据权利要求1所述的测试芯片电源可靠性的装置，其特征在于：所述第一金属连接件(1)和第二金属连接件(2)为金属夹。

6.根据权利要求1所述的测试芯片电源可靠性的装置，其特征在于：所述第一金属连接件(1)和第二金属连接件(2)为筒状金属件。