[实用新型]测试芯片电源可靠性的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电源性能的测试装置技术领域，尤其涉及一种测试芯片电源可靠性的装置。

背景技术

可靠性测试在产品研发过程中占据重要的地位，可靠性测试健全与否很大程度上决定了研发产品的稳定性与可靠性。研发产品系统中，最重要的电源部分是可靠性测试中重点关注的测试项目。在电源部分的可靠性测试中，通常需要重点关注电源容限、芯片供电电源的薄弱点等。为了提高系统可靠性，常常需要对电子产品系统做一些可靠性测试，从而验证产品在极端的工作条件下是否具备可靠性与稳定性。而芯片供电电源作为系统的核心部分，其电源的稳定性和健壮性直接影响系统的稳定性。因此业界在研发测试阶段通常需要对系统进行单板可靠性测试，具体可以为对单板电源进行拉偏，通过拉低芯片供电电压来验证系统对电源波动的敏感度、验证系统在电源方面的可靠性。

目前业界常用的方法是降低整个系统电压来验证芯片供电电压对波动的敏感度和系统的可靠性，通过调低DC-DC(直流-直流)电源、LDO(低压差稳压器)电源的电压幅值来降低整个系统的电压，从而验证系统在哪个电压值会出现问题。但系统上的DCDC电源、LDO电源一般都不会单独供电给某个芯片，这样有以下几个方面的问题：

(1)不能单独对芯片供电电源进行可靠性测试：由于系统的电源是非单独供电的，而且芯片可能同时存在多个供电电源，因此无法单独对芯片进行供电电源的可靠性测试；

(2)不能保证系统对电源的整体可靠性：由于系统电源存在供电给多个芯片的可能，那么，通过调低电压的方法就存在验证到最薄弱环节的芯片供电电源，而第二薄弱以及其他较为薄弱的芯片供电电源是无法验证到的，而单板可靠性测试的原则是找出系统的每一个薄弱的环节。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种测试芯片电源可靠性的装置，所述装置能够对为芯片提供供电电源的电源模块进行测试，找出供电模块的薄弱环节，提高电源模块的可靠性。

为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案是：一种测试芯片电源可靠性的装置，所述装置串联在芯片供电回路上，其特征在于：能准确的判断电源的可靠性，提高电源的安全性。所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一金属连接件、用于连接供电电源的第二金属连接件，以及一端与第一金属连接件电连接，另一端与第二金属连接件电连接的可变电子负载，所述可变电子负载的两端并联有电压传感器，所述第一金属连接件、可变电子负载以及第二金属连接件构成的导电支路上设有电流传感器，所述电压传感器和电流传感器通过信号处理电路与微处理器的信号输入端连接，人机交互模块与所述微处理器进行双向连接，用于输入和显示数据。

进一步的技术方案在于：所述可变电子负载为可变电阻。

进一步的技术方案在于：所述人机交互模块为触摸屏。

进一步的技术方案在于：所述人机交互模块为与微处理器的信号输入端连接的按键模块和与微处理器的信号输出端连接的显示模块。

进一步的技术方案在于：所述第一金属连接件和第二金属连接件为金属夹。

进一步的技术方案在于：所述第一金属连接件和第二金属连接件为筒状金属件。

用上述技术方案所产生的有益效果在于：所述装置通过改变可变电子负载的电阻值来改变供电电源输出的电流和电压，并通过电流传感器和电压传感器对电源模块输出的电流和电压进行实时监测，提高测试的准确度，可以定量的验证系统对电压波动的敏感性，并能够单独对每个芯片的供电电源进行电源可靠性测试，找出芯片供电电源的薄弱点，保证供电模块整体的可靠性。此装置可用于银行的联机系统、广播通信设备、航空港和交通管制系统、以及各种工厂的过程控制设备、仪表设备。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

图1是本实用新型的原理框图；

其中：1、第一金属连接件2、第二金属连接件3、可变电子负载4、电压传感器5、电流传感器6、信号处理电路7、微处理器8、人机交互模块。

具体实施方式

下面结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。