[实用新型]一种平板电路微观缺陷检测线阵扫描系统有效
| 申请号： | 201520680520.1 | 申请日： | 2015-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN204989056U | 公开（公告）日： | 2016-01-20 |
| 发明（设计）人： | 全燕鸣;姜长城;陈秋华 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 霍健兰;李卫东 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种平板电路微观缺陷检测线阵扫描系统，其特征在于：包括上位机、PLC控制器、线阵相机、伺服驱动器、伺服电机和工作台；其中，上位机分别与PLC控制器和线阵相机信号连接；PLC控制器通过伺服驱动器与伺服电机信号连接；伺服电机与工作台连接；PLC控制器与线阵相机信号连接。本实用新型线阵扫描系统结构简单，使用安全可靠，可避免由于机械惯性冲击而引起线阵相机扫描形成的图像畸变，有利于提高平板电路微观缺陷检测的准确程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平板 电路 微观 缺陷 检测 扫描 系统 | ||
【主权项】：
一种平板电路微观缺陷检测线阵扫描系统，其特征在于：包括上位机、PLC控制器、线阵相机、伺服驱动器、伺服电机和工作台；其中，上位机分别与PLC控制器和线阵相机信号连接；PLC控制器通过伺服驱动器与伺服电机信号连接；伺服电机与工作台连接；PLC控制器与线阵相机信号连接。
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