[实用新型]用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置有效
| 申请号： | 201520597678.2 | 申请日： | 2015-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN204831786U | 公开（公告）日： | 2015-12-02 |
| 发明（设计）人： | 廖祖平;张堇;韩林;郭延忠;刘峰 | 申请（专利权）人： | 大连探索者科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M13/04 | 分类号： | G01M13/04 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 徐淑东;王宇杨 |
| 地址： | 116023 辽宁省大*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，包括光学显微镜组件、直线导轨、纵向导杆、底座、滑块，所述底座与直线导轨滑动配合，所述纵向导杆固定在底座上，所述底座靠近直线导轨的一侧设置有止动装置，所述滑块滑动套设在直线导轨上，所述光学显微镜组件固定在滑块上。本装置将光学显微镜组件滑动配合设置在直线导轨上，实现了同一套光学显微镜组件在多光电码盘工位之间快速切换，操作方便，提高效率满足光电码盘批量生产要求的同时，控制了光电码盘成本的增加，具有较高的实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电码 精密 径向 回转 精度 光学 检验 装置 | ||
【主权项】：
一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，其特征在于，包括光学显微镜组件、直线导轨、纵向导杆、底座、滑块，所述底座与直线导轨滑动配合，所述纵向导杆固定在底座上，所述底座靠近直线导轨的一侧设置有止动装置，所述滑块滑动套设在直线导轨上，所述光学显微镜组件固定在滑块上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连探索者科技有限公司，未经大连探索者科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201520597678.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种涡轴发动机动态特性研究实验装置
- 下一篇：一种登高工器具耐力试验装置
