[实用新型]用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置

权利要求书

1.一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，其特征在于，包括光学显微镜组件、直线导轨、纵向导杆、底座、滑块，所述底座与直线导轨滑动配合，所述纵向导杆固定在底座上，所述底座靠近直线导轨的一侧设置有止动装置，所述滑块滑动套设在直线导轨上，所述光学显微镜组件固定在滑块上。

2.根据权利要求1所述用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，其特征在于，所述止动装置为直线导轨夹具。

3.根据权利要求1所述用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，其特征在于，所述光学显微镜组件包括镜头、镜头支架和显示器，所述镜头固定在镜头支架上，所述镜头支架通过螺钉固定在滑块上，所述显示器固定在工作台台面上，且与镜头电联。

4.根据权利要求3所述用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，其特征在于，所述镜头支架为圆环形支架，所述镜头插入圆环形支架中，并通过螺钉固定。

5.根据权利要求1所述用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，其特征在于，所述滑块上设置有用于限制滑块位移的螺钉。

6.根据权利要求1所述用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，其特征在于，所述纵向导杆通过螺钉固定在底座上。