[实用新型]用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光学测量技术，尤其涉及一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置。

背景技术

光电码盘精密轴系是一种小型精密轴系，其径向回转精度的检验方法是用光学显微镜观察轴系回转时轴端的环形同轴图案。这种精密光学测量方式通常用于实验室，操作不便，且无法应用于产品批量化生产环境，尤其是检验工序还带有其他连带操作工序，该工位操作所需时间过长时，单纯增加检验用光学显微镜设备成本较高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，针对上述现有光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验方式仅限于实验室，操作不便，无法应用于光电码盘批量化生产的问题，提出一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，该装置结构简单、实现了同一套光学显微镜在多光电码盘工位之间快速切换，满足了光电码盘批量化生产的需要。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，包括光学显微镜组件、直线导轨、纵向导杆、底座、滑块，所述底座与直线导轨滑动配合，所述纵向导杆固定在底座上，所述底座靠近直线导轨的一侧设置有止动装置，所述滑块滑动套设在直线导轨上，所述光学显微镜组件固定在滑块上。

进一步地，所述止动装置为直线导轨夹具。

进一步地，所述光学显微镜组件包括镜头、镜头支架和显示器，所述镜头固定在镜头支架上，所述镜头支架通过螺钉固定在滑块上，所述显示器固定在工作台台面上，且与镜头电联。

进一步地，所述镜头支架为圆环形支架，所述镜头插入圆环形支架中，并通过螺钉固定。

进一步地，所述滑块上设置有用于限制滑块位移的螺钉。

进一步地，所述纵向导杆通过螺钉固定在底座上。

使用时，松开止动装置，镜头及显示器可随底座一起，沿直线导轨移动，直线导轨承载能力较好，导向精度较高；且镜头和显示器可随滑块在纵向导杆上下移动，本实用新型用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置可实现较为稳定的使用环境，且在检验当前工位时，不影响其它工位的操作。

本实用新型一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，结构简单合理、紧凑，与现有技术相比较具有以下优点：本装置将检具(光学显微镜组件)滑动配合设置在直线导轨上，实现了同一套光学显微镜组件在多光电码盘工位之间快速切换，操作方便，提高效率满足批量生产要求的同时，控制了光电码盘成本的增加，具有较高的实用价值。

附图说明

图1为本实用新型用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置的主视图；

图2为图1的右视图。

具体实施方式

以下结合实施例对本实用新型进一步说明：

实施例

本实施例公开了一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，其结构如图1和图2所示，包括光学显微镜组件、直线导轨、纵向导杆、底座和滑块。

本实施例中光学显微镜组件包括镜头7、镜头支架8和显示器，所述镜头7固定在镜头支架8上，所述显示器固定在工作台台面上，且与镜头电联。具体地，所述镜头支架8为圆环形支架，所述镜头7插入圆环形支架中，并通过螺钉固定。

所述底座1半包覆在直线导轨3上，与直线导轨3滑动配合，即所述底座1能沿直线导轨3的长度方向滑动，为了实现底座1滑动的限位，所述底座1靠近直线导轨3的一侧设置有止动装置5。本实施例所述止动装置5为直线导轨夹具。

所述纵向导杆2底部通过螺钉固定在底座1上，所述滑块4滑动套设在直线导轨3上，且所述滑块4上设置有用于限制滑块4位移的螺钉6。所述光学显微镜组件的镜头支架8通过螺钉固定在滑块4上。即所述滑块4可以在纵向导杆2上下滑动，进而实现光学显微镜组件的上下位移。

使用用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置时，松开止动装置，镜头及显示器可随底座一起沿直线导轨移动，直线导轨承载能力较好，导向精度较高；且镜头和显示器可随滑块在纵向导杆上下移动，即本实施例提供的用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置可实现较为稳定的使用环境，且在检验当前工位时，不影响其它工位的操作。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。