[实用新型]SMD微型晶振检测仪方向检测机构有效
申请号: | 201520266996.0 | 申请日: | 2015-04-29 |
公开(公告)号: | CN204497198U | 公开(公告)日: | 2015-07-22 |
发明(设计)人: | 吕锡昌;廖建伟;林峰 | 申请(专利权)人: | 福建省将乐县长兴电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G01R31/00 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 曾捷 |
地址: | 353300 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开一种SMD微型晶振检测仪方向检测机构,包括圆盘检测座,所述圆盘检测座靠近其四周位置设置有复数个沿圆周方向均匀排列的晶振接纳座,所述圆盘检测座中部设置有中柱,每个晶振接纳座上均设置有两个晶振接纳槽,所述中柱侧壁沿圆周方向均匀分布设置有多个定位座,所述中柱侧壁与上述定位座相对应位置设置有沿其高度方向延伸的滑动轨道,所述定位座通过其背部的定位块与所述滑动轨道滑动定位连接。由于本实用新型每个晶振接纳座上均设置有两个晶振接纳槽,因此其可以实现同时对两组晶振进行检测,而且可以根据需要调节定位座的高度以及伸缩式支撑杆的长度,减少检测过程中的位移,提高了生产效率。 | ||
搜索关键词: | smd 微型 检测 方向 机构 | ||
【主权项】:
一种SMD微型晶振检测仪方向检测机构,包括圆盘检测座(1),所述圆盘检测座(1)靠近其四周位置设置有复数个沿圆周方向均匀排列的晶振接纳座(2),所述晶振接纳座(2)上表面设置有晶振接纳槽(3),所述圆盘检测座(1)中部设置有中柱(4),其特征在于:每个晶振接纳座(2)上均设置有两个晶振接纳槽(3),所述中柱(4)侧壁沿圆周方向均匀分布设置有多个定位座(5),所述中柱(4)侧壁与上述定位座(5)相对应位置设置有沿其高度方向延伸的滑动轨道,所述定位座(5)通过其背部的定位块(6)与所述滑动轨道滑动定位连接,其中第一块定位座(5)上设置有CCD检测装置(7),第二和第三块定位座(5)上分别设置有一方向调节装置(8)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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