[实用新型]SMD微型晶振检测仪方向检测机构有效
| 申请号: | 201520266996.0 | 申请日: | 2015-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN204497198U | 公开(公告)日: | 2015-07-22 |
| 发明(设计)人: | 吕锡昌;廖建伟;林峰 | 申请(专利权)人: | 福建省将乐县长兴电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 曾捷 |
| 地址: | 353300 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | smd 微型 检测 方向 机构 | ||
1.一种SMD微型晶振检测仪方向检测机构,包括圆盘检测座(1),所述圆盘检测座(1)靠近其四周位置设置有复数个沿圆周方向均匀排列的晶振接纳座(2),所述晶振接纳座(2)上表面设置有晶振接纳槽(3),所述圆盘检测座(1)中部设置有中柱(4),其特征在于:每个晶振接纳座(2)上均设置有两个晶振接纳槽(3),所述中柱(4)侧壁沿圆周方向均匀分布设置有多个定位座(5),所述中柱(4)侧壁与上述定位座(5)相对应位置设置有沿其高度方向延伸的滑动轨道,所述定位座(5)通过其背部的定位块(6)与所述滑动轨道滑动定位连接,其中第一块定位座(5)上设置有CCD检测装置(7),第二和第三块定位座(5)上分别设置有一方向调节装置(8)。
2.根据权利要求1所述的SMD微型晶振检测仪方向检测机构,其特征在于:所述CCD检测装置(7)以及方向调节装置(8)均是通过伸缩式支撑杆(9)与相应定位座(5)相连的。
3. 根据权利要求2所述的SMD微型晶振检测仪方向检测机构,其特征在于:第四和第五块定位座(5)上通过伸缩式支撑杆(9)设置有清洗装置(10),该清洗装置(10)上设置有与外部的晶体功率清洗器电连的功率清洗头。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福建省将乐县长兴电子有限公司,未经福建省将乐县长兴电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520266996.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





