[发明专利]改良西门子法还原炉提高多晶硅一次沉积率的方法在审
申请号: | 201510969159.9 | 申请日: | 2015-12-22 |
公开(公告)号: | CN105574343A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 沈祖祥;王姗;冉耘瑞;陈建 | 申请(专利权)人: | 成都蜀菱科技发展有限公司 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610016 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本一种改良西门子法还原炉提高多晶硅一次沉积率的方法,是当还原炉运行压力控制在表压0.2-0.6MPa的范围内变化时,降低还原炉系统运行压力,多晶硅一次沉积率将按下式提高:η=0p0/(p0-△p),式中:η0:原始一次沉积率,η:降低运行压力后的一次沉积率,P0:原始运行压力,P0=0MPa、0.1MPa、0.2MPa、0.3MPa、...;△p:压力降低值,△p=0MPa、0.1MPa、0.2MPa、0.3MPa、...。在现有改良西门子法还原炉基础上不增加其他资金、设备的投入,仅从降低还原炉的运行压力着手,利用现有技术设备,改变运行操作参数,即可明显提高多晶硅一次沉积率,达到大幅节能降耗的目的。 | ||
搜索关键词: | 改良 西门子 还原 提高 多晶 一次 沉积 方法 | ||
【主权项】:
一种改良西门子法还原炉提高多晶硅一次沉积率的方法,其特征在于当还原炉运行压力控制在表压0.2‑0.6 MPa的范围内变化,降低还原炉系统运行压力,多晶硅一次沉积率将按下式提高:η = η0 p0/(p0 ‑ △p)式中:η0: 原始一次沉积率η :降低运行压力后的一次沉积率P0:原始运行压力, P0= 0MPa 、0.1MPa 、0.2 MPa 、0.3 MPa 、...△p:压力降低值,△p =0MPa 、0.1MPa 、0.2 MPa 、0.3 MPa 、...。
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G06F19-12 ..用于系统生物学的建模或仿真,例如:概率模型或动态模型,遗传基因管理网络,蛋白质交互作用网络或新陈代谢作用网络
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