[发明专利]产生半导体电路布局的方法和系统有效
| 申请号： | 201510888195.2 | 申请日： | 2015-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN105718623B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 朴哲弘;金秀贤;S.迪帕克 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 钱大勇 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种产生电子电路布局数据的方法，该方法可以包括：在电子存储介质中电子地提供代表包括第一缩放增强电路布局的第一标准单元布局的数据。可以使用标注器层电子地定义在第一标准单元布局中包括的第一缩放增强电路布局。可以电子地将第一缩放增强电路布局替换为第二缩放增强电路布局以在电子存储介质中电子地产生代表第二标准单元布局的数据。可以电子地校验代表第二标准单元布局的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 产生 半导体 电路 布局 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种产生电子电路布局数据的方法，该方法包括：在电子存储介质中电子地提供代表包括第一缩放增强电路布局的第一标准单元布局的数据；使用标注器层电子地定义在第一标准单元布局中包括的第一缩放增强电路布局；电子地将第一缩放增强电路布局替换为第二缩放增强电路布局以在电子存储介质中电子地产生代表第二标准单元布局的数据；以及电子地校验代表第二标准单元布局的数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510888195.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：可拆卸压缩集装箱规格组合房
- 下一篇：电连接器组件及其防尘盖
