[发明专利]产生半导体电路布局的方法和系统

说明书

一种产生电子电路布局数据的方法，该方法可以包括：在电子存储介质中电子地提供代表包括第一缩放增强电路布局的第一标准单元布局的数据。可以使用标注器层电子地定义在第一标准单元布局中包括的第一缩放增强电路布局。可以电子地将第一缩放增强电路布局替换为第二缩放增强电路布局以在电子存储介质中电子地产生代表第二标准单元布局的数据。可以电子地校验代表第二标准单元布局的数据。

技术领域

本发明构思涉及一种设计半导体器件的方法和设计半导体器件的系统。

背景技术

可以通过在诸如半导体晶片的衬底上图案化各种器件和其相互连接制造半导体器件。可以通过使用电子设计自动(EDA)工具和技术设计集成电路来制造半导体器件。具体地，使用EDA工具可以产生半导体器件布局，其中通过设计者将电路的各种元件功能性地放置并且相互连接。

半导体器件布局可以转移到半导体衬底，由此制造半导体器件。但是，在完成布局之前，半导体器件布局可能经过校验过程，半导体器件布局包括电路元件的各种物理位置和尺寸、连接导线和各种层。半导体器件的校验过程可通过检查布局是否符合设计规则来实现。但是，如果产生完全符合设计规则的布局，则在降低半导体器件的规模上可能存在限制。

发明内容

根据本发明构思的实施例，可以提供用于产生半导体电路布局的方法、系统和计算机程序产品。根据这些实施例，一种产生电子电路布局数据的方法可以包括：在电子存储介质中电子地提供代表包括第一缩放增强电路布局的第一标准单元布局的数据；可以使用标注器层电子地定义在第一标准单元布局中包括的第一缩放增强电路布局。可以电子地将第一缩放增强电路布局替换为第二缩放增强电路布局以在电子存储介质中电子地产生代表第二标准单元布局的数据；以及可以电子地校验代表第二标准单元布局的数据。

根据本发明构思的一些实施例，一种产生电子电路布局数据的方法可以包括：在电子存储介质中电子地提供代表包括设计规则违反层的第二缩放增强电路布局。可以电子地提供代表包括第一缩放增强电路布局的第一标准单元布局的数据，第一缩放增强电路布局不同于第二缩放增强电路布局并且包括电子存储介质中的设计规则违反层。可以电子地将第一缩放增强电路布局替换为第二缩放增强电路布局以电子地产生第二标准单元布局；以及可以电子地校验第二标准单元布局。

根据本发明构思的一些实施例，一种产生电子电路布局数据的系统，该系统可以包括：处理器电路；以及电子存储介质，被配置为存储处理器电路执行的更新模块，其中更新模块可以被配置为接收代表包括第一缩放增强电路布局的第一标准单元布局的数据；可以被配置为使用标注器层定义在第一标准单元布局中包括的第一缩放增强电路布局；以及可以被配置为将第一缩放增强电路布局替换为第二缩放增强电路布局以提供代表第二标准单元布局的数据。

根据本发明构思的一些实施例，一种设计半导体器件的系统可以包括：处理器电路；以及电子存储介质，被配置为存储使用处理器电路上载或下载的数据文件，其中数据文件包括代表标准单元布局的数据以及代表与标准单元布局对应并且包括设计规则违反层的缩放增强电路布局的数据。

根据本发明构思的一些实施例，一种计算机程序产品可以包括：有形的计算机可读存储介质，包括嵌入该介质中的计算机可读程序代码，当被处理器电路执行计算机可读程序代码使得处理器电路执行包括如下的操作：允许电子设计自动工具访问代表包括电子存储介质中的第一缩放增强电路布局的第一标准单元布局的数据；允许电子设计自动工具将第一缩放增强电路布局替换为第二缩放增强电路布局以在电子存储介质中提供代表第二标准单元布局的数据。

附图说明

图1是说明根据本发明构思的实施例的处理半导体器件设计的方法的流程图；

图2是说明图1的步骤S100的详细流程图；

图3、4A、4B和5是说明图2中所示的处理的图；

图6A是说明根据本发明构思的实施例的处理半导体器件设计的系统的框图；