[发明专利]光电瞄准系统下视跟踪测试方法及实施该方法的测试装置在审

专利信息
申请号: 201510880327.7 申请日: 2015-12-05
公开(公告)号: CN105547049A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 孔卫国;窦光继;罗永胜;黄庆;冯长远;王合龙 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: F41G3/32 分类号: F41G3/32;F41G3/22
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 陈晓辉
地址: 471009 *** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种光电瞄准系统下视跟踪测试方法及实施该方法的测试装置。测试装置,包括二维转台,二维转台上装配有平行光管,并在平行光管的上方设有用于固定光电瞄准系统位置的安装部件,安装部件装配在机架上。本发明以二维转台带动平行光管运动的方式实现平行光管与光电瞄准系统的相对运动,从而模拟广电瞄准系统相对于目标源的移动,在此过程中,平行光管所发射出的平行光源始终朝上,以致平行光管上方的光电瞄准系统不会出现视场盲区,尤其在需要测试光电瞄准系统对正下方目标的下视性能时,可将光电瞄准系统置于平行光管的正上方,此时平行光管和光电瞄准系统之间不会受到二维转台的干涉,从而增大了光电瞄准系统下视跟踪性能测试的范围。
搜索关键词: 光电 瞄准 系统 跟踪 测试 方法 实施 装置
【主权项】:
光电瞄准系统下视跟踪测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,将平行光管安装在二维转台上,将待测试光电瞄准系统置于平行光管的上方,并通过调节平行光管和/或光电瞄准系统,使得平行光管处于光电瞄准系统的正下方或侧下方;步骤二,光电瞄准系统保持不动,通过二维转台带动平行光管运动。
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