[发明专利]光电瞄准系统下视跟踪测试方法及实施该方法的测试装置

权利要求书

1.光电瞄准系统下视跟踪测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一，将平行光管安装在二维转台上，将待测试光电瞄准系统置于平行光管的上方， 并通过调节平行光管和/或光电瞄准系统，使得平行光管处于光电瞄准系统的正下方或侧 下方；

步骤二，光电瞄准系统保持不动，通过二维转台带动平行光管运动。

2.专用于实施如权利要求1所述的光电瞄准系统下视跟踪测试方法的测试装置，包括 二维转台，其特征在于，二维转台上装配有用于作为目标源的平行光管，并在平行光管的上 方设有用于固定光电瞄准系统位置的安装部件，安装部件装配在机架上。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，二维转台包括转台基座及其上绕竖向 延伸的轴线转动装配的方位框，方位框和平行光管之间装配有用于带动平行光管在方位框 上沿垂直方位框转动轴线的方向移动的横移机构。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，横移机构包括固定在方位框上的横移 导轨以及与平行光管固连的导向支座，导向支座与横移导轨沿轨道长度方向导向移动配 合。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，横移导轨为绕水平延伸的轴线弯曲的 圆弧轨道。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，圆弧轨道为两端齐平、且中间低的半 圆形。

7.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，平行光管偏置于方位框的旋转轴线的 一侧。

8.根据权利要求2至7中任意一项所述的测试装置，其特征在于，安装部件和机架之间 装配有沿水平方向移动或绕竖向延伸的轴线摆动的调整机构。

9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，调整机构包括固定基座及其上沿纵向 导向移动装配的纵向滑座，纵向滑座上装配有沿横向导向移动装配的横向滑座，所述安装 部件处于横向滑座上。

10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，横向滑座和安装部件之间装配有用 于带动安装部件上下移动的升降机构。