[发明专利]用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法

摘要

本发明公开了一种用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法，首先在一定辐射条件下由检测装置分别获得响应率和噪声数据，一方面通过辐射响应温度特性公式计算标准辐射和辐射偏差率，利用标准辐射计算辐射不一致性，另一方面计算噪声等效值，进而计算器件性能参数，最后根据器件性能参数判断探测器可靠性筛选后的性能。这种检测装置包括辐射源、运算放大器、A/D转换器、控制器、串口驱动器、计算机。本发明有效解决了线阵探测器在可靠性筛选过程中器件性能评估的问题，并提出了数字化标准。

主权项

一种用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法,其特征在于包括以下步骤：(1)、将线阵探测器接入检测装置，不通电的状态下保持2小时以上；(2)、对处于步骤(1)状态中的装置进行加电，同时设置辐射源温度值为35℃，保持该状态5min；(3)、由检测装置获得当前辐射源温度下探测器1～k像元的响应量，记为D₁～D_k，单位为V，其中k为线阵探测器像元总数，同时记录当前环境温度值Te_now；(4)、由检测装置获得线阵探测器1～k像元的噪声等效值,记为N₁～N_k，单位为mV；(5)、对装置进行断电；(6)、根据线阵探测器第1像元辐射响应温度特性公式D＝m₁Ts+m₂Te+m₃,其中m₁、m₂、m₃分别是其辐射线性影响因子、环境温度线性影响因子、常数因子，Ts为辐射源温度，Te为环境温度，D为对应辐射源温度和环境温度条件下的辐射响应量，计算当辐射源温度值为35℃、环境温度值为23℃对应的响应量，即为第1像元的标准辐射，其值记为Db₁；(7)、将辐射源温度值35℃和由步骤(3)获得的环境温度值Te_now代入步骤(6)所述的辐射响应温度特性公式中，得到对应的辐射响应量，即为理论值D_L1，结合由步骤(3)获得的线阵探测器第1像元响应量实测值D₁，根据公式计算辐射偏差率Dif₁：${\mathrm{Dif}}_1=\left|\frac{D_{L1}-D_1}{D_1}\right|;$(8)、按步骤(6)～(7),依次获得线阵探测器2～k像元的标准辐射，分别对应为Db₂、……、Db_k，以及辐射偏差率，分别对应为Dif₂、……、Dif_k；(9)、计算按步骤(6)～(8)获得线阵探测器1～k像元标准辐射的最大值Db_max、最小值Db_min和平均值Db_ave，按公式计算所有像元辐射的不一致性，其值记为△；(10)、计算器件性能参数s：$s=\frac{\mathrm{\Δ}\·\underset{i=1}{\overset{k}{\Σ}}{\mathrm{Dif}}_i\·\underset{i=1}{\overset{k}{\Σ}}{N}_i}{B_{\mathrm{\Δ}}\·B_{Dif}\·B_N}\·e^{\left|\frac{{\mathrm{Db}}_{ave}-B_{Db}}{B_{Dbf}}\right|}$其中B_△、B_Dif、B_N、B_Db、B_Dbf分别为不一致性阈值、响应偏差阈值、噪声阈值、响应能力阈值、响应区分度阈值；(11)、若由步骤(10)获得的器件性能参数s小于1.4，则认为该线阵探测器合格。