[发明专利]用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法

权利要求书

1.一种用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法,其特征在于包括以下步骤：

(1)、将线阵探测器接入检测装置，不通电的状态下保持2小时以上；

(2)、对处于步骤(1)状态中的装置进行加电，同时设置辐射源温度值为35℃，保持该状态5min；

(3)、由检测装置获得当前辐射源温度下探测器1～k像元的响应量，记为D₁～D_k，单位为V，其中k为线阵探测器像元总数，同时记录当前环境温度值Te_now；

(4)、由检测装置获得线阵探测器1～k像元的噪声等效值,记为N₁～N_k，单位为mV；

(5)、对装置进行断电；

(6)、根据线阵探测器第1像元辐射响应温度特性公式D＝m₁Ts+m₂Te+m₃,其中m₁、m₂、m₃分别是其辐射线性影响因子、环境温度线性影响因子、常数因子，Ts为辐射源温度，Te为环境温度，D为对应辐射源温度和环境温度条件下的辐射响应量，计算当辐射源温度值为35℃、环境温度值为23℃对应的响应量，即为第1像元的标准辐射，其值记为Db₁；

(7)、将辐射源温度值35℃和由步骤(3)获得的环境温度值Te_now代入步骤(6)所述的辐射响应温度特性公式中，得到对应的辐射响应量，即为理论值D_L1，结合由步骤(3)获得的线阵探测器第1像元响应量实测值D₁，根据公式计算辐射偏差率Dif₁：

Dif1=|DL1-D1D1|;]]>

(8)、按步骤(6)～(7),依次获得线阵探测器2～k像元的标准辐射，分别对应为Db₂、……、Db_k，以及辐射偏差率，分别对应为Dif₂、……、Dif_k；

(9)、计算按步骤(6)～(8)获得线阵探测器1～k像元标准辐射的最大值Db_max、最小值Db_min和平均值Db_ave，按公式计算所有像元辐射的不一致性，其值记为△；

(10)、计算器件性能参数s：

s=Δ·Σi=1kDifi·Σi=1kNiBΔ·BDif·BN·e|Dbave-BDbBDbf|]]>

其中B_△、B_Dif、B_N、B_Db、B_Dbf分别为不一致性阈值、响应偏差阈值、噪声阈值、响应能力阈值、响应区分度阈值；

(11)、若由步骤(10)获得的器件性能参数s小于1.4，则认为该线阵探测器合格。

2.根据权利要求1所述的用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法，其特征在于：步骤(1)所述的检测装置包括辐射源、运算放大器、AD转换器、控制器、串口驱动器、计算机，其中：

所述辐射源为SR800R恒温黑体；

所述的运算放大器采用OP97，工作电压范围-8V～+8V；

所述的AD转换电路精度为14位，转换频率16384Hz；

所述的串口驱动器采用232串口驱动器MAX232；

所述控制器采用微控制器、FPGA或处理器；

线阵探测器接入运算放大器前端，接收辐射源的辐射后产生信号，信号通过运算放大器进行放大后，由AD转换器转换成数字响应量并存储在控制器中，计算机通过端口，获取经串口驱动器传输的由控制器存储的数字响应量并进行处理显示。