[发明专利]用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法在审

专利信息
申请号: 201510876268.6 申请日: 2015-12-03
公开(公告)号: CN105444783A 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 邹鹏;孔晓健;周士兵;朱进兴;于远航;崔维鑫 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 探测器 可靠性 筛选 器件 性能 评估 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及线阵红外地球敏感器用线阵探测器的使用。具体涉及一种用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法。

背景技术

红外地球敏感器,是基于地球红外辐射敏感原理的卫星姿态光学敏感器,可用于航天器相对于地球局地垂线的俯仰、滚动姿态角信号的测量、初始状态时航天器对地球的捕获和稳态运行时航天器的姿态控制,在航天领域的应用重要性举足轻重。而线阵红外地球敏感器是其发展的一个重要分支,其重要件是其选用的探测器,其准确性和可靠性较大程度有赖于其选用探测器的性能参数。其中,在红外地球敏感器应用过程中,主要影响单机工作状态的线阵探测器指标包括响应能力的稳定性、不同元响应一致性和噪声强度:响应能力的稳定性将有利于地面的在轨标定,保障红外地球敏感器的工作精度;不同元响应一致性将影响在轨红外地球敏感器捕捉地球的准确程度;信噪比能力的大小将很大程度影响红外地球敏感器工作的随机误差。

因此,对线阵探测器进行可靠性筛选试验是非常有必要的,这将有利于发现性能指标超差严重的器件,并筛选出性能相对优越的器件,有效提高红外地球敏感器的性能。现有的探测器性能评估方案极大程度依赖于检测装置:有的装置复杂、测量步骤繁琐,可靠性筛选后性能评估有效,但整个过程需要消耗大量人力、物力等成本要素;有的装置简单,但受环境特点、装置性能等各因素的影响较大,进而影响可靠性筛选后器件性能的判断。故而迫切需要提出一种能够准确完成可靠性筛选过程中探测器性能评估的方案,降低对测量装置的依赖性,减小环境因素的局限性。

发明内容

本发明的目的在于提出用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法,筛选性能优越的线阵探测器,保证其应用后的可靠性。

用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法,其特征在于包括以下步骤:

(1)、将线阵探测器接入检测装置,不通电的状态下保持2小时以上;

(2)、对(1)状态的装置进行加电,同时设置辐射源温度值为35℃,保持该状态5min;

(3)、由检测装置获得当前辐射源温度下探测器1~k像元的响应量,记为D1~Dk,单位为V,其中k为线阵探测器像元总数,同时记录当前环境温度值Tenow

(4)、由检测装置获得线阵探测器1~k像元的噪声等效值,记为N1~Nk,单位为mV;

(5)、对装置进行断电;

(6)、根据线阵探测器第1像元辐射响应温度特性公式D=m1Ts+m2Te+m3,其中m1、m2、m3分别是其辐射线性影响因子、环境温度线性影响因子、常数因子,Ts为辐射源温度,Te为环境温度,D为对应辐射源温度和环境温度条件下的辐射响应量,计算当辐射源温度值为35℃、环境温度值为23℃对应的响应量,即为第1像元的标准辐射,其值记为Db1

(7)、将辐射源温度值35℃和由步骤(3)获得的环境温度值Tenow代入步骤(6)所述的辐射响应温度特性公式中,得到对应的辐射响应量,即为理论值DL1,结合由步骤(3)获得的线阵探测器第1像元响应量实测值D1,根据公式计算辐射偏差率Dif1

(8)、按步骤(6)~(7),依次获得线阵探测器2~k像元的标准辐射,分别对应为Db2、……、Dbk,以及辐射偏差率,分别对应为Dif2、……、Difk

(9)、计算按步骤(6)~(8)获得线阵探测器1~k像元标准辐射的最大值Dbmax、最小值Dbmin和平均值Dbave,按公式计算所有像元辐射的不一致性,其值记为△。

(10)、计算器件性能参数其中B、BDif、BN、BDb、BDbf分别为不一致性阈值、响应偏差阈值、噪声阈值、响应能力阈值、响应区分度阈值;

(11)、若由步骤(10)获得的器件性能参数s小于1.4,则认为该线阵探测器合格。

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