[发明专利]一种天线耦合的干扰检测方法及检测系统

摘要

本发明涉及电子通信领域，公开了一种天线耦合的干扰检测方法及检测系统。本发明中，天线耦合的干扰检测系统包含：屏蔽箱、低噪放大器、频谱仪、主机、以及待测设备，待测设备包含相连接的射频检测插座与收发天线。频谱仪记录待测设备处于待机状态时收发天线耦合产生的第一干扰信号以及待测设备处于器件运行状态时收发天线耦合产生的第二干扰信号；主机根据第一干扰信号与第二干扰信号，计算收发天线受待测设备的器件运行影响而耦合产生的干扰评估数据。通过上述方法可以减少检测时间，提高研发速度，从而缩短研发周期。

主权项

1.一种天线耦合的干扰检测方法，其特征在于，包含以下步骤：提供屏蔽箱、低噪放大器、频谱仪、主机以及待测设备；所述待测设备包含相连接的射频检测插座与收发天线；将所述待测设备放置于所述屏蔽箱内；将所述射频检测插座连接于所述低噪放大器的输入端，将所述低噪放大器的输出端连接于所述频谱仪的输入端，将所述频谱仪的输出端连接于所述主机；控制所述待测设备依次处于待机状态与器件运行状态；所述频谱仪记录所述待测设备处于所述待机状态时所述收发天线耦合产生的第一干扰信号以及所述待测设备处于所述器件运行状态时所述收发天线耦合产生的第二干扰信号；所述主机根据所述第一干扰信号与所述第二干扰信号，计算所述收发天线受所述待测设备的器件运行影响而耦合产生的干扰评估数据；其中，所述干扰评估数据包含干扰频点与干扰强度；所述主机获取所述第一干扰信号的干扰频点以及各干扰频点对应的干扰强度，所述第二干扰信号的干扰频点以及各干扰频点对应的干扰强度；以所述第二干扰信号的干扰频点作为所述干扰评估数据的干扰频点；对于在所述第一干扰信号中存在的所述干扰评估数据的干扰频点，计算所述干扰评估数据的干扰频点在所述第二干扰信号中对应的干扰强度与在所述第一干扰信号中对应的干扰强度的差，作为所述干扰评估数据的干扰频点对应的干扰强度；对于所述第一干扰信号中不存在的所述干扰评估数据的干扰频点时，将所述干扰评估数据的干扰频点在所述第二干扰信号中对应的干扰强度，作为所述干扰评估数据的干扰频点对应的干扰强度。