[发明专利]一种天线耦合的干扰检测方法及检测系统

说明书

本发明涉及电子通信领域，公开了一种天线耦合的干扰检测方法及检测系统。本发明中，天线耦合的干扰检测系统包含：屏蔽箱、低噪放大器、频谱仪、主机、以及待测设备，待测设备包含相连接的射频检测插座与收发天线。频谱仪记录待测设备处于待机状态时收发天线耦合产生的第一干扰信号以及待测设备处于器件运行状态时收发天线耦合产生的第二干扰信号；主机根据第一干扰信号与第二干扰信号，计算收发天线受待测设备的器件运行影响而耦合产生的干扰评估数据。通过上述方法可以减少检测时间，提高研发速度，从而缩短研发周期。

技术领域

本发明涉及电子通信领域，特别涉及一种天线耦合的干扰检测方法及检测系统。

背景技术

随着无线电子设备的应用范围日益广泛，人们对终端设备性能的要求也越来越严格。终端设备各模块之间相互影响，各模块对天线的干扰问题尤为严重。

目前，研发人员一般是在实验室测试各模块依次工作时天线的接收功率，然后根据接收功率与预设的接收指标判断各模块是否合格，但是这种方法耗时非常久，会严重影响项目的研发进度，进而延长项目研发周期，无法充分利用实验室资源。

发明内容

本发明的目的在于提供一种天线耦合的干扰检测方法，可以减少检测时间，提高研发速度，从而缩短研发周期。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种天线耦合的干扰检测方法，包含以下步骤：提供屏蔽箱、低噪放大器、频谱仪、主机以及待测设备；所述待测设备包含相连接的射频检测插座与收发天线；将所述待测设备放置于所述屏蔽箱内；将所述射频检测插座连接于所述低噪放大器的输入端，将所述低噪放大器的输出端连接于所述频谱仪的输入端，将所述频谱仪的输出端连接于所述主机；控制所述待测设备依次处于待机状态与器件运行状态；所述频谱仪记录所述待测设备处于所述待机状态时所述收发天线耦合产生的第一干扰信号以及所述待测设备处于所述器件运行状态时所述收发天线耦合产生的第二干扰信号；所述主机根据所述第一干扰信号与所述第二干扰信号，计算所述收发天线受所述待测设备的器件运行影响而耦合产生的干扰评估数据。

本发明的实施方式还提供了一种天线耦合的干扰检测系统，应用于上述天线耦合的干扰检测方法，包含：屏蔽箱、低噪放大器、频谱仪、主机、以及待测设备；所述待测设备包含相连接的射频检测插座与收发天线；所述屏蔽箱用于放置所述待测设备；所述待测设备的射频检测插座连接于所述低噪放大器的输入端；所述低噪放大器的输出端连接于所述频谱仪的输入端，所述频谱仪的输出端连接于所述主机。

本发明实施方式相对于现有技术而言，频谱仪记录待测设备处于待机状态时收发天线耦合产生的第一干扰信号以及待测设备处于器件运行状态时收发天线耦合产生的第二干扰信号；主机根据第一干扰信号与第二干扰信号，计算收发天线受待测设备的器件运行影响而耦合产生的干扰评估数据。由于能直接测出天线受各器件的运行影响而产生的干扰评估数据，从而减少检测时间，提高研发速度，缩短研发周期。

另外，所述器件运行状态至少包含一个单器件运行状态。即各器件分别运行，从而能够检测出各器件的运行对收发天线的干扰。

另外，在控制所述待测设备依次处于待机状态与至少一个单器件运行状态的步骤之前，还包含以下步骤：设置频谱仪的检测频段；所述检测频段包含所述收发天线的所有工作频段。本步骤能确保频谱仪的检测波段包含收发天线的所有工作波段，避免实际应用中出现由于无法测量到某个波段而导致测试结果不准的情况。