[发明专利]一种天线耦合的干扰检测方法及检测系统有效

专利信息
申请号: 201510741601.2 申请日: 2015-11-04
公开(公告)号: CN105425060B 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: 李进兵 申请(专利权)人: 上海与德通讯技术有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 201506 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 天线 耦合 干扰 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种天线耦合的干扰检测方法,其特征在于,包含以下步骤:

提供屏蔽箱、低噪放大器、频谱仪、主机以及待测设备;所述待测设备包含相连接的射频检测插座与收发天线;

将所述待测设备放置于所述屏蔽箱内;将所述射频检测插座连接于所述低噪放大器的输入端,将所述低噪放大器的输出端连接于所述频谱仪的输入端,将所述频谱仪的输出端连接于所述主机;

控制所述待测设备依次处于待机状态与器件运行状态;

所述频谱仪记录所述待测设备处于所述待机状态时所述收发天线耦合产生的第一干扰信号以及所述待测设备处于所述器件运行状态时所述收发天线耦合产生的第二干扰信号;

所述主机根据所述第一干扰信号与所述第二干扰信号,计算所述收发天线受所述待测设备的器件运行影响而耦合产生的干扰评估数据;

其中,所述干扰评估数据包含干扰频点与干扰强度;

所述主机获取所述第一干扰信号的干扰频点以及各干扰频点对应的干扰强度,所述第二干扰信号的干扰频点以及各干扰频点对应的干扰强度;

以所述第二干扰信号的干扰频点作为所述干扰评估数据的干扰频点;

对于在所述第一干扰信号中存在的所述干扰评估数据的干扰频点,计算所述干扰评估数据的干扰频点在所述第二干扰信号中对应的干扰强度与在所述第一干扰信号中对应的干扰强度的差,作为所述干扰评估数据的干扰频点对应的干扰强度;

对于所述第一干扰信号中不存在的所述干扰评估数据的干扰频点时,将所述干扰评估数据的干扰频点在所述第二干扰信号中对应的干扰强度,作为所述干扰评估数据的干扰频点对应的干扰强度。

2.根据权利要求1所述的天线耦合的干扰检测方法,其特征在于,所述器件运行状态至少包含一个单器件运行状态。

3.根据权利要求2所述的天线耦合的干扰检测方法,其特征在于,所述单器件运行状态包含显示屏点亮状态、摄像头拍摄状态、马达震动状态、USB传输状态中的一个。

4.根据权利要求1所述的天线耦合的干扰检测方法,其特征在于,在控制所述待测设备依次处于待机状态与至少一个单器件运行状态的步骤之前,还包含以下步骤:

设置频谱仪的检测频段;所述检测频段包含所述收发天线的所有工作频段。

5.一种天线耦合的干扰检测系统,其特征在于,应用于权利要求1至4中任意一项所述天线耦合的干扰检测方法,所述天线耦合的干扰检测系统包含:屏蔽箱、低噪放大器、频谱仪、主机、以及待测设备;所述待测设备包含相连接的射频检测插座与收发天线;

所述屏蔽箱用于放置所述待测设备;所述待测设备的射频检测插座连接于所述低噪放大器的输入端;所述低噪放大器的输出端连接于所述频谱仪的输入端,所述频谱仪的输出端连接于所述主机。

6.根据权利要求5所述的天线耦合的干扰检测系统,其特征在于,所述天线耦合的干扰检测系统还包含第一射频信号线、第二射频信号线,所述第一射频信号线连接所述射频检测插座与所述低噪放大器的输入端,所述第二射频信号线连接所述低噪放大器的输出端与所述频谱仪的输入端。

7.根据权利要求6所述的天线耦合的干扰检测系统,其特征在于,所述待测设备还包含射频电路;

所述射频检测插座包含:具有插口的壳体、第一信号传导件、第二信号传导件以及弹片;

所述第一、第二信号传导件设置于所述壳体且分别连接于所述收发天线与所述射频电路;所述弹片设置于所述壳体内且对应于所述插口;所述弹片的第一端固定连接于所述第一信号传导件且第二端抵持于所述第二信号传导件;

其中,所述第一射频信号线由所述插口插入并下压所述弹片时,所述弹片的第二端远离所述第二信号传导件。

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