[发明专利]一种带引脚的电子元件测试系统在审
申请号: | 201510724729.8 | 申请日: | 2015-10-29 |
公开(公告)号: | CN105242161A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 顾在意;张善杰 | 申请(专利权)人: | 青岛海智半导体有限公司 |
主分类号: | G01R31/01 | 分类号: | G01R31/01 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 赵慧 |
地址: | 266000 山东省青岛*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种带引脚的电子元件测试系统,包括机架、轨道、传动机构和至少2个测试机构,所述轨道固定连接在机架上,所述传动机构设于轨道的一侧,所述传动机构包括传动板、第一气缸和第二气缸,所述传动板位于所述轨道上方,所述传动板的一侧与第一气缸固定连接,所述传动板的另一侧设有至少2个缺口,所述测试机构包括测试机、探针组和第三气缸,所述探针组固定连接在固定板上,所述探针组包括至少2根探针,本发明的测试系统自动完成测试和打标、省时省力、降低生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 引脚 电子元件 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种带引脚的电子元件测试系统,其特征在于,包括机架、轨道、传动机构和至少2个测试机构,所述轨道固定连接在机架上,所述传动机构设于轨道的一侧,所述传动机构包括传动板、第一气缸和第二气缸,所述传动板位于所述轨道上方,所述传动板的一侧与第一气缸固定连接,所述传动板的另一侧设有至少2个缺口,所述缺口的形状与电子元件的形状相配合,相邻的所述缺口间距为d,所述第一气缸通过滑轨与机架连接,所述滑轨与传动板平行,所述第二气缸与第一气缸的伸缩方向垂直,所述第二气缸的伸缩杆与第一气缸固定连接,所述第二气缸与机架固定连接,所述测试机构包括测试机、探针组和第三气缸,所述探针组固定连接在固定板上,所述探针组包括至少2根探针,所述第三气缸与所述固定板固定连接,所述探针组与测试机连接,所述第三气缸固定连接在所述机架上,所述探针组与所述缺口相对,所述测试机构对称排列在所述轨道的两侧,所述电子元件的引脚分别位于所述轨道的两侧。
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