[发明专利]一种带引脚的电子元件测试系统

权利要求书

1.一种带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，包括机架、轨道、传动机构和至少2个测试机构，所述轨道固定连接在机架上，所述传动机构设于轨道的一侧，所述传动机构包括传动板、第一气缸和第二气缸，所述传动板位于所述轨道上方，所述传动板的一侧与第一气缸固定连接，所述传动板的另一侧设有至少2个缺口，所述缺口的形状与电子元件的形状相配合，相邻的所述缺口间距为d，所述第一气缸通过滑轨与机架连接，所述滑轨与传动板平行，所述第二气缸与第一气缸的伸缩方向垂直，所述第二气缸的伸缩杆与第一气缸固定连接，所述第二气缸与机架固定连接，所述测试机构包括测试机、探针组和第三气缸，所述探针组固定连接在固定板上，所述探针组包括至少2根探针，所述第三气缸与所述固定板固定连接，所述探针组与测试机连接，所述第三气缸固定连接在所述机架上，所述探针组与所述缺口相对，所述测试机构对称排列在所述轨道的两侧，所述电子元件的引脚分别位于所述轨道的两侧。

2.根据权利要求1所述的带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，所述探针组为2组，2组所述探针组的距离为d。

3.根据权利要求1所述的带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括打标机，所述打标机固定连接在机架上，所述打标机与所述缺口相对，沿电子元件的传动方向，所述测试机构和所述打标机依次排列。

4.根据权利要求3所述的带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，所述轨道包括上料端和下料端，所述测试系统还包括上料板和第四气缸，所述上料板倾斜设置，所述上料板与所述机架固定连接，所述上料板的一端与上料端固定连接，所述传动板靠近所述上料端的一端设有上料爪，所述上料爪和相邻缺口的距离为d，所述第四气缸固定连接于机架上，所述第四气缸的伸缩杆垂直于所述轨道和电子元件的引脚，所述第四气缸的伸缩杆位于所述轨道的上方，所述第四气缸的伸缩杆阻挡由所述上料板滑下的电子元件，使电子元件与最近的缺口距离为d。

5.根据权利要求4所述的带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，所述上料爪包括3根圆锥体，3根所述圆锥体固定连接在传动板上，3根所述圆锥体沿传动板平行排列，所述圆锥体位于所述轨道的下方，所述圆锥体的顶端朝向所述轨道。

6.根据权利要求5所述的带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括第五气缸，所述第五气缸与所述机架固定连接，所述第五气缸的伸缩杆垂直于所述轨道，所述第五气缸的伸缩杆平行于电子元件的引脚，所述第五气缸的伸缩杆与电子元件的头部相对，所述第五气缸位于所述上料端上方。

7.根据权利要求6所述的带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括第六气缸，所述第六气缸垂直于所述轨道，所述第六气缸位于所述测试机构和打标机之间，所述轨道包括独立块，所述独立块与所述第六气缸的伸缩杆固定连接。

8.根据权利要求7所述的带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，所述测试机构为4个，沿电子元件的传动方向依次排列为：2个测试机构、第六气缸、打标机和2个测试机构依次排列。

9.根据权利要求8所述的带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括控制系统，所述测试机构、第六气缸和打标机分别与所述控制系统连接。

10.根据权利要求9任一所述的带引脚的电子元件测试系统，其特征在于，所述轨道的下料端上方设有毛刷。