[发明专利]一种带引脚的电子元件测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及电子元件测试机械技术领域，具体而言，涉及一种带引脚的电子元件测试系统。

背景技术

随着社会发展，越来越多的领域正在实现智能化，而其中最基础也是很重要的部分就是电子元件，电子元件的生产目前的测试是通过人工完成，需要操作人员使用测试机逐个对电子元件进行测试，测试多次才能完成对该电子元件的测试，造成电子元件的生产效率低，人工劳动强度大，生产成本高。

发明内容

针对上述现有技术中存在的问题，本发明提供一种带引脚的电子元件测试系统，该测试系统自动完成测试、省时省力、降低生产成本。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种带引脚的电子元件测试系统，包括机架、轨道、传动机构和至少2个测试机构，所述轨道固定连接在机架上，所述传动机构设于轨道的一侧，所述传动机构包括传动板、第一气缸和第二气缸，所述传动板位于所述轨道上方，所述传动板的一侧与第一气缸固定连接，所述传动板的另一侧设有至少2个缺口，所述缺口的形状与电子元件的形状相配合，相邻的所述缺口间距为d，所述第一气缸通过滑轨与机架连接，所述滑轨与传动板平行，所述第二气缸与第一气缸的伸缩方向垂直，所述第二气缸的伸缩杆与第一气缸固定连接，所述第二气缸与机架固定连接，所述测试机构包括测试机、探针组和第三气缸，所述探针组固定连接在固定板上，所述探针组包括至少2根探针，所述第三气缸与所述固定板固定连接，所述探针组与测试机连接，所述第三气缸固定连接在所述机架上，所述探针组与所述缺口相对，所述测试机构对称排列在所述轨道的两侧，所述电子元件的引脚分别位于所述轨道的两侧。

进一步，所述探针组为2组，2组所述探针组的距离为d。

进一步，所述测试系统还包括打标机，所述打标机固定连接在机架上，所述打标机与所述缺口相对，沿电子元件的传动方向，所述测试机构和所述打标机依次排列。

进一步，所述轨道包括上料端和下料端，所述测试系统还包括上料板和第四气缸，所述上料板倾斜设置，所述上料板与所述机架固定连接，所述上料板的一端与上料端固定连接，所述传动板靠近所述上料端的一端设有上料爪，所述上料爪和相邻缺口的距离为d，所述第四气缸固定连接于机架上，所述第四气缸的伸缩杆垂直于所述轨道和电子元件的引脚，所述第四气缸的伸缩杆位于所述轨道的上方，所述第四气缸的伸缩杆阻挡由所述上料板滑下的电子元件，使电子元件与最近的缺口距离为d。

进一步，所述上料爪包括3根圆锥体，3根所述圆锥体固定连接在传动板上，3根所述圆锥体沿传动板平行排列，所述圆锥体位于所述轨道的下方，所述圆锥体的顶端朝向所述轨道。

进一步，所述测试系统还包括第五气缸，所述第五气缸与所述机架固定连接，所述第五气缸的伸缩杆垂直于所述轨道，所述第五气缸的伸缩杆平行于电子元件的引脚，所述第五气缸的伸缩杆与电子元件的头部相对，所述第五气缸位于所述上料端上方。

进一步，所述测试系统还包括第六气缸，所述第六气缸垂直于所述轨道，所述第六气缸位于所述测试机构和打标机之间，所述轨道包括独立块，所述独立块与所述第六气缸的伸缩杆固定连接。

进一步，所述测试机构为4个，沿电子元件的传动方向依次排列为：2个测试机构、第六气缸、打标机和2个测试机构依次排列。

进一步，所述测试系统还包括控制系统，所述测试机构、第六气缸和打标机分别与所述控制系统连接。

进一步，所述轨道的下料端上方设有毛刷。

本发明的有益效果如下：

1、传动机构和测试机构相配合，逐个完成对带引脚的电子元件的测试，不需人工操控测试机，节省劳动力，降低生产成本；

2、上料板、第四气缸和第五气缸的设置，实现了上料的自动化和有序化，无需人工将电子元件放至缺口处，省时省力；

3、第六气缸与独立块相配合，使不合格产品到达独立块之前，独立块被第六气缸拉出，造成轨道断开，不合格的电子元件被传动机构带动至独立块处时，从轨道上落下，实现自动排料；

4、打标机对测试合格的电子元件打标，自动进行，不需要人工操作；

5、根据对电子元件的要求，可以设置2-4次测试，提高测试的准确性；

6、轨道下料端的毛刷可以扫除电子元件头部的灰尘，节省了人工清理的工序。

附图说明

图1为本发明的整体结构示意图；

图2为本发明的机架上表面局部细节图；

图3为本发明的传动机构示意图；

图4为本发明的测试机构示意图；