[发明专利]一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法

摘要

本发明公开了一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法，属于光纤光缆测试技术领域。该方法通过对较短光纤打圈滤掉高阶模以及对数据进行数学运算方式代替100m段长光纤NA测试，建立不同剖面结构、不同长度光纤、不同打圈半径和圈数下的较短光纤与100m光纤的数值孔径值的数学联系，从而在需要测试被测光纤的数值孔径时，只需在相应打圈半径和圈数下测得其较短长度光纤的数值孔径值，并查找到对应的运算系数(即D1和D2)，利用上述数学运算公式即可计算得到对应的100m段长光纤的数值孔径值，对于各种剖面结构及不同工艺方法制造的光纤的测试均可方便实现，测试结果可行，并且能够大大提高生产测试效率，节约光纤。

主权项

1.一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：(1)选择剖面结构为R1的样本光纤；(2)取长度为L100米的第一样本光纤，测量其数值孔径值(3)取长度为L21米的第二样本光纤，分别用不同的打圈半径X和圈数Y打圈，并测量不同的打圈半径X和圈数Y下所述第二样本光纤的数值孔径值(4)建立所述第一样本光纤的数值孔径值和不同的打圈半径X和圈数Y下所述第二样本光纤的数值孔径值的关系：求取在不同打圈半径X和圈数Y下的D1和D2的值,D1，D2为常数；(5)重复上述步骤(3)和步骤(4)，建立该剖面结构R1的不同长度L2米第二样本光纤在不同打圈半径X和圈数Y下的D1和D2的取值表{D1，D2，R1，L2，X，Y}；(6)重复步骤(1)至(5)，利用上述方法求取不同剖面结构R的不同长度L2米第二样本光纤在不同打圈半径X和圈数Y下的D1和D2的值；从而建立不同剖面结构的光纤在不同打圈半径X和圈数Y下的D1和D2的取值表{D1，D2，R，L2，X，Y}；(7)若需要测量某种剖面结构Rtest的待测光纤的数值孔径，取长度为L2-test米的待测光纤，测量其在打圈半径Xtest和圈数Ytest下的数值孔径值从所述步骤(6)中获得的取值表中取相应的D1和D2的取值，并利用公式求取其对应的数值孔径