[发明专利]一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法有效
| 申请号： | 201510689087.2 | 申请日： | 2015-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN105180875B | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 张立岩;徐进;严长峰;尹旭峰;李婧;曹蓓蓓;曾军 | 申请（专利权）人： | 长飞光纤光缆股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/10 | 分类号： | G01B21/10 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 向彬 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 弯曲 光纤 数值孔径 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
(1)选择剖面结构为R
(2)取长度为L
(3)取长度为L
(4)建立所述第一样本光纤的数值孔径值
(5)重复上述步骤(3)和步骤(4)，建立该剖面结构R
(6)重复步骤(1)至(5)，利用上述方法求取不同剖面结构R的不同长度L
(7)若需要测量某种剖面结构R
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