[发明专利]一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法

说明书

本发明公开了一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法，属于光纤光缆测试技术领域。该方法通过对较短光纤打圈滤掉高阶模以及对数据进行数学运算方式代替100m段长光纤NA测试，建立不同剖面结构、不同长度光纤、不同打圈半径和圈数下的较短光纤与100m光纤的数值孔径值的数学联系，从而在需要测试被测光纤的数值孔径时，只需在相应打圈半径和圈数下测得其较短长度光纤的数值孔径值，并查找到对应的运算系数(即D1和D2)，利用上述数学运算公式即可计算得到对应的100m段长光纤的数值孔径值，对于各种剖面结构及不同工艺方法制造的光纤的测试均可方便实现，测试结果可行，并且能够大大提高生产测试效率，节约光纤。

技术领域

本发明属于光纤光缆测试技术领域，更具体地，涉及一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法。

背景技术

标准规定多模光纤的数值孔径(Numerical Aperture，NA)测试方法为远场光分布法，其测试原理及过程为：取长度为95m到105m的测试光纤，用850nmLED光源对光纤一端满注入，光纤另一端输出的光用可沿角度转动的探测器扫描远场光分布，转动不同的角度θ，得到对应的光强P，最后给出如图1所示的P和sinθ的曲线，取最强光强的5％处的光强所对应的sinθ为光纤的NA。然而上述方法采用的测试光纤长度较长所以测试效率较低，且会浪费光纤，因而需要寻找更加简便高效的替代测试方法。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法，其目的在于采用较短长度光纤打圈结合远场光分布法，替代现有的100m光纤测试方法，由此解决测试效率较低且浪费光纤的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法，包括如下步骤：

(1)选择剖面结构为R1的样本光纤；

(2)取长度为L100米的第一样本光纤，测量其数值孔径值

(3)取长度为L21米的第二样本光纤，分别用不同的打圈半径X和圈数Y打圈，并测量不同的打圈半径X和圈数Y下所述第二样本光纤的数值孔径值