[发明专利]基板处理装置以及基板处理方法在审
申请号: | 201510628190.6 | 申请日: | 2015-09-28 |
公开(公告)号: | CN105470166A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 桥本光治;波多野章人;林豊秀;土谷庆一 | 申请(专利权)人: | 株式会社思可林集团 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 董雅会;向勇 |
地址: | 日本国京*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种能够防止基板破损的基板处理装置以及基板处理方法。在利用传感器进退移动部使测绘传感器进入运送器内的状态下,通过传感器升降部使测绘传感器沿上下方向移动。与该动作一起,通过测绘传感器朝向与基板进出运送器的前后方向相交的水平方向检测基板的有无,通过高度传感器检测测绘传感器的高度。由此,在前后方向上的彼此不同的两个以上位置检测基板高度。基板状态取得部基于该基板高度,取得各基板在前后方向上相对于水平面的倾斜度。由于事先取得运送器内的各基板的倾斜度,所以能够防止因基板搬运机构的手部与基板接触而产生的基板破损。 | ||
搜索关键词: | 处理 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基板处理装置,用于处理基板,其特征在于,具有:载置部,载置有用于容置多个基板的运送器,基板检测传感器,朝向水平方向检测各基板的有无,该水平方向是与基板进出所述运送器的前后方向相交的方向,高度传感器,检测所述基板检测传感器的高度,上下机构,使所述基板检测传感器沿上下方向移动,进退机构,使所述基板检测传感器沿所述前后方向移动,控制部,通过所述上下机构使所述基板检测传感器沿上下方向移动,并且通过所述进退机构使所述基板检测传感器沿所述前后方向移动,来通过所述基板检测传感器在所述前后方向上的不同的两个以上的位置检测各基板的高度,基板状态取得部,基于在所述两个以上的位置分别检测到的基板的高度之差,取得各基板在所述前后方向上相对于水平面的倾斜度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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