[发明专利]一种用于检测液晶显示模组的系统及方法在审
| 申请号： | 201510512518.8 | 申请日： | 2015-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN105093585A | 公开（公告）日： | 2015-11-25 |
| 发明（设计）人： | 苏威;刘双锋;徐旭;李德安;钟仕勇;周雪林 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 朱绘;李心稳 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于检测液晶显示模组的系统及方法。该系统包括：检测输送部，其用于输送待测模组；OTP烧录机构，其用于为待测模组的驱动芯片设定基准电压值；电性检测机构，其用于对待测模组进行导电性能检测；画面检测机构，其用于对待测模组进行画面检测；其中，所述OTP烧录机构、电性检测机构和画面检测机构沿所述检测输送部设置，且OTP烧录机构设置在电性检测机构和画面检测机构的上游。本发明通过合理排布检测系统中各检测站的位置，保证检测效率最高，并可降低银胶导通性测试所消耗的设备成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 液晶显示 模组 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测液晶显示模组的系统，其特征在于，包括：检测输送部，其用于输送待测模组；OTP烧录机构，其用于为待测模组的驱动芯片设定基准电压值；电性检测机构，其用于对待测模组进行导电性能检测；画面检测机构，其用于对待测模组进行画面检测；其中，所述OTP烧录机构、电性检测机构和画面检测机构沿所述检测输送部设置，且OTP烧录机构设置在电性检测机构和画面检测机构的上游。
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