[发明专利]一种用于检测液晶显示模组的系统及方法

权利要求书

1.一种用于检测液晶显示模组的系统，其特征在于，包括：

检测输送部，其用于输送待测模组；

OTP烧录机构，其用于为待测模组的驱动芯片设定基准电压值；

电性检测机构，其用于对待测模组进行导电性能检测；

画面检测机构，其用于对待测模组进行画面检测；

其中，所述OTP烧录机构、电性检测机构和画面检测机构沿所述检测输送部设置，且OTP烧录机构设置在电性检测机构和画面检测机构的上游。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述检测输送部具有至少一个用于放置待测模组的装载件。

3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述检测输送部包括：

上料部，设置在所述检测输送部的输入端，用于将待测模组放置于检测输送部的装载件内，并使装载件的测试线与待测模组的接口连接，进行点灯测试；

下料部，设置在所述检测输送部的输出端，用于使装载件的测试线与已测模组的接口断开，且将已测模组取出。

4.如权利要求2所述的系统，其特征在于，该系统还包括：

辅助输送部，其连接所述检测输送部的输入端和输出端，用于将装载件从所述检测输送部的输出端回送至所述检测输送部的输入端。

5.如权利要求1所述的系统，其特征在于，该系统还包括：

上料输送部，其与所述检测输送部的输入端连接，将待测模组输送至所述检测输送部的输入端；

下料输送部，其与所述检测输送部的输出端连接，将已测模组输出。

6.如权利要求1-5中任一项所述的系统，其特征在于，所述导电性能测试包括银胶导通性测试、睡眠电流测试和功耗电流测试中的一种或几种。

7.如权利要求1-5中任一项所述的系统，其特征在于，所述OTP烧录机构和电性检测机构设置为一体。

8.一种用于检测液晶显示模组的方法，使用权利要求1-7中任一项所述的系统进行检测，其特征在于，包括以下步骤：

将待测模组放置在检测输送部上；

所述检测输送部先将待测模组输送至OTP烧录机构，为待测模组的驱动芯片设定基准电压值，再将待测模组输送至电性检测机构进行导电性能测试，并将待测模组输送至画面检测机构进行画面检测。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在对待测模组进行检测之前，检测输送部的上料部将待测模组放置于检测输送部的装载件内，并使装载件的测试线与待测模组的接口连接，进行点灯测试；

若待测模组通过点灯测试，则检测输送部将待测模组输送至OTP烧录机构、电性检测机构和画面检测机构。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若待测模组完成OTP测试、导电特性测试和画面检测，则检测输送部的下料部使装载件的测试线与已测模组的接口断开，将已测模组取出，辅助输送部将装载件从所述检测输送部的输出端回送至所述检测输送部的输入端。