[发明专利]一种用于检测液晶显示模组的系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示器检测技术领域，具体地说，涉及一种用于检测液晶显示模组的系统及方法。

背景技术

液晶显示模组LCM(LiquidCrystalDisplayModule)是一种将液晶显示面板、驱动电路(DriveIC)和控制电路进行电性连接，再与背光源模块组合而构成的组件。为了确保液晶显示模组的质量，在制程中需要测试其显示质量、可靠性及光学性能。

现有技术中，液晶显示模组在生产流水线上需进行一次性可编程(OneTimeProgram，简称OTP)测试、银胶导通性测试、睡眠电流测试、功耗电流测试和画面检测等来检查不良产品。其中，画面检测可利用检测设备批量进行，而OTP测试、银胶导通性测试和睡眠电流测试通常由检测人员手动操作完成。

检测人员需要进行特殊的检测培训，并经过不良品判断培训之后，人员才能上岗工作。进一步来说，检测人员的熟练程度很重要，只有熟练标准的检测操作才能检测出稳定的高品质产品。此外，对于复杂的产品则需要多人合作才能完成检测。由于各个检测项目都是独立进行，浪费了大量检测时间和人工，降低了生产效率。

因此，亟需一种能够对液晶显示模组同时进行OTP测试、银胶导通性测试、睡眠电流测试、功耗电流测试和画面检测的系统和方法。

发明内容

本发明的目的之一在于解决现有技术中在进行液晶显示模组检测时，存在的耗费人工过多，检测效率低下的技术缺陷。

本发明的实施例首先提供一种用于检测液晶显示模组的系统，包括：

检测输送部，其用于输送待测模组；

OTP烧录机构，其用于为待测模组的驱动芯片设定基准电压值；

电性检测机构，其用于对待测模组进行导电性能检测；

画面检测机构，其用于对待测模组进行画面检测；

其中，所述OTP烧录机构、电性检测机构和画面检测机构沿所述检测输送部设置，且OTP烧录机构设置在电性检测机构和画面检测机构的上游。

在一个实施例中，所述检测输送部具有至少一个用于放置待测模组的装载件。

在一个实施例中，所述检测输送部包括：

上料部，设置在所述检测输送部的输入端，用于将待测模组放置于检测输送部的装载件内，并使装载件的测试线与待测模组的接口连接，进行点灯测试；

下料部，设置在所述检测输送部的输出端，用于使装载件的测试线与已测模组的接口断开，且将已测模组取出。

在一个实施例中，该系统还包括：

辅助输送部，其连接所述检测输送部的输入端和输出端，用于将装载件从所述检测输送部的输出端回送至所述检测输送部的输入端。

在一个实施例中，该系统还包括：

上料输送部，其与所述检测输送部的输入端连接，将待测模组输送至所述检测输送部的输入端；

下料输送部，其与所述检测输送部的输出端连接，将已测模组输出。

在一个实施例中，所述导电性能测试包括银胶导通性测试、睡眠电流测试和功耗电流测试中的一种或几种。

在一个实施例中，所述OTP烧录机构和电性检测机构设置为一体。

根据本发明的另一方面，还提供一种用于检测液晶显示模组的方法，使用上文所述的系统进行检测，包括以下步骤：

将待测模组放置在检测输送部上；

所述检测输送部先将待测模组输送至OTP烧录机构，为待测模组的驱动芯片设定基准电压值，再将待测模组输送至电性检测机构进行导电性能测试，并将待测模组输送至画面检测机构进行画面检测。

在一个实施例中，所述方法还包括：

在对待测模组进行检测之前，检测输送部的上料部将待测模组放置于检测输送部的装载件内，并使装载件的测试线与待测模组的接口连接，进行点灯测试；

若待测模组通过点灯测试，则检测输送部将待测模组输送至OTP烧录机构、电性检测机构和画面检测机构。

在一个实施例中，所述方法还包括：

若待测模组完成OTP测试、导电特性测试和画面检测，则检测输送部的下料部使装载件的测试线与已测模组的接口断开，将已测模组取出，辅助输送部将装载件从所述检测输送部的输出端回送至所述检测输送部的输入端。

本发明实施例在检测系统中先后进行OTP烧录、银胶导通性测试、睡眠电流测试、功耗电流测试和画面检测等多项测试，通过合理排布检测系统中各检测站的位置，保证检测效率最高。并给出OTP烧录机构和电性检测机构的合理配置数量，当检测系统精度较低时，可降低银胶导通性测试所消耗的设备成本。