[发明专利]芯片级封装方法有效
申请号: | 201510457801.5 | 申请日: | 2015-07-30 |
公开(公告)号: | CN105140184B | 公开(公告)日: | 2017-11-21 |
发明(设计)人: | 贾东庆 | 申请(专利权)人: | 常州银河世纪微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78;H01L21/304;H01L21/683 |
代理公司: | 常州市科谊专利代理事务所32225 | 代理人: | 孙彬 |
地址: | 213022 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种芯片级封装方法,以设有划片沟槽的晶圆为加工对象;所述封装方法的具体步骤是步骤a、制备导电凸块;步骤b、减薄;步骤c、涂覆绝缘保护胶层;步骤d、切割;所述切割是将经步骤c制备的晶圆的绝缘保护胶层的背面贴到贴膜上固定,然后沿着晶圆上的划片沟槽进行第一次切割,且切割深度为晶圆的厚度和绝缘保护胶层的厚度的总和;步骤e、二次涂覆绝缘保护胶层;步骤f、二次切割;所述二次切割是对经步骤e后制备的晶圆采用电磁波探测仪探测步骤d的划片沟槽的位置进行二次切割,且二次切割宽度小于步骤d的第一次切割宽度,尔后将每一个晶粒从贴膜上剥离,制备已封装的器件。本发明的制备方法合理,且生产效率高,投入成本低。 | ||
搜索关键词: | 芯片级 封装 方法 | ||
【主权项】:
一种芯片级封装方法,以多颗晶粒集成为一体,且相邻晶粒之间设有划片沟槽的晶圆为加工对象;其特征在于:所述封装方法的具体步骤是:步骤a、制备导电凸块;所述制备导电凸块,是在所述晶圆上的每颗晶粒的接触区域上制作导电凸块;步骤b、减薄;所述减薄是对经步骤a制备的晶圆的背面进行磨片减薄至芯片设计厚度;步骤c、涂覆绝缘保护胶层;所述涂覆绝缘保护胶层是对经步骤b制备的晶圆的背面涂覆绝缘保护胶,并在晶圆背面形成绝缘保护胶层;步骤d、切割;所述切割是将经步骤c制备的晶圆的绝缘保护胶层的背面贴到贴膜上固定,然后沿着晶圆上的划片沟槽进行第一次切割,且切割深度为晶圆的厚度和绝缘保护胶层的厚度的总和;步骤e、二次涂覆绝缘保护胶层;所述二次涂覆绝缘保护胶层是对经步骤d制备的晶圆的正面和划片沟槽涂覆绝缘保护胶,且将导电凸块端部裸露在外,而在晶圆正面形成绝缘保护胶层;步骤f、二次切割;所述二次切割是对经步骤e后制备的晶圆采用电磁波探测仪探测步骤d的划片沟槽的位置进行二次切割,且二次切割宽度小于步骤d的第一次切割宽度,尔后将每一个晶粒从贴膜上剥离,制备已封装的器件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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