[发明专利]一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法

摘要

本发明公开一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法，一、色环电阻通过下料机构进入传送机构，在移动中滚压机构将色环电阻两端的轴向引线碾压至与色环电阻棒体同轴；二、当色环电阻到达旋转机构时，旋转机构的加紧装置夹紧轴向引线然后匀速旋转，在夹紧同时测量色环电阻阻值并且触发相机的传感器，测得的阻值传输到计算机；三、在色环电阻匀速旋转的同时相机采集图片；四、采集的图片传入计算机进行图像处理，然后利用外观缺陷识别算法识别外观缺陷类型；五、将外观缺陷类型和阻值的综合检测结果传递给剔除机构，剔除机构执行相应指令，实现色环电阻外观缺陷和阻值的集成检测。本发明将阻值测量与外观缺陷检测集成，提高色环电阻检测的效率。

主权项

一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、色环电阻通过集成检测装置的下料机构进入传送机构，传送机构带动色环电阻移动，在移动的过程中色环电阻经过滚压机构后到达旋转机构，滚压机构将色环电阻两端的轴向引线碾压至与色环电阻棒体同轴；步骤二、当色环电阻到达旋转机构时，旋转机构的加紧装置夹紧色环电阻的轴向引线然后匀速旋转，所述旋转机构的加紧装置与阻值测量仪的接口连接，在夹紧轴向引线的同时测量色环电阻阻值并且触发相机的传感器，阻值测量仪测得的阻值传输到计算机；步骤三、在色环电阻开始匀速旋转的同时相机采集图片，相机在色环电阻的一个旋转周期内等时间间隔地采集n张图片；步骤四、采集到的图片传入计算机进行图像处理，所述图像处理包括预处理和阈值分割；将图像处理后的图片利用外观缺陷识别算法识别色环电阻的外观缺陷类型；步骤五、将计算机中的外观缺陷类型和阻值的综合检测结果传递给剔除机构，若检验不合格，剔除机构使该色环电阻进入不合格品区域，若检验合格，则该色环电阻随传送机构进入合格品区域，从而实现色环电阻外观缺陷和阻值的集成检测。