[发明专利]一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法

权利要求书

1.一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、色环电阻通过集成检测装置的下料机构进入传送机构，传送机构带动色环电阻移动，在移动的过程中色环电阻经过滚压机构后到达旋转机构，滚压机构将色环电阻两端的轴向引线碾压至与色环电阻棒体同轴；

步骤二、当色环电阻到达旋转机构时，旋转机构的加紧装置夹紧色环电阻的轴向引线然后匀速旋转，所述旋转机构的加紧装置与阻值测量仪的接口连接，在夹紧轴向引线的同时测量色环电阻阻值并且触发相机的传感器，阻值测量仪测得的阻值传输到计算机；

步骤三、在色环电阻开始匀速旋转的同时相机采集图片，相机在色环电阻的一个旋转周期内等时间间隔地采集n张图片；

步骤四、采集到的图片传入计算机进行图像处理，所述图像处理包括预处理和阈值分割；将图像处理后的图片利用外观缺陷识别算法识别色环电阻的外观缺陷类型；

步骤五、将计算机中的外观缺陷类型和阻值的综合检测结果传递给剔除机构，若检验不合格，剔除机构使该色环电阻进入不合格品区域，若检验合格，则该色环电阻随传送机构进入合格品区域，从而实现色环电阻外观缺陷和阻值的集成检测。

2.如权利要求1所述的一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法，其特征在于，所述预处理为利用直方图均衡化提高图像对比度，再利用中值滤波去除图像中的噪点。

3.如权利要求1所述的一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法，其特征在于，所述阈值分割为依据图像采集现场的光照环境选择合适的分割阈值进行阈值分割形成二值图，二值图中色环电阻的色环标志为白色，背景为黑色，再次利用中值滤波消除阈值分割留下的部分噪点。

4.如权利要求1所述的一种色环电阻外观缺陷和阻值集成检测方法，其特征在于，步骤四所述的外观缺陷识别算法为：首先获取二值图各像素点灰度值，用G[m][n]表示，其中，m表示像素点的行数，n表示像素点的列数，逐行扫描各像素点的灰度值并进行逻辑判断，当G[a][b+1]-G[a][b]>0，则表示在第a行第b+1列所在位置第一次出现白色像素点(a,b+1)，在第一次出现白色像素点后继续逐行扫描；当再次出现G[c][d+1]-G[c][d]>0时，判断第一次出现的白色像素点(a,b+1)与当前白色像素点(c,d+1)之间的列间距(b-d)，其中，a<c，若(b-d)大于一定的阈值，则用当前白色像素点(c,d+1)表示色环的左上角，否则以第一次出现的白色像素点(a,b+1)表示色环的左上角；以色环的左上角像素点为基础向下向左偏移若干像素点得到检测区域的左上角点；根据检测区域的左上角点来截取检测区域。