[发明专利]通过接触氢还原进行的制造方法在审
申请号: | 201510440966.1 | 申请日: | 2015-07-24 |
公开(公告)号: | CN105295947A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
发明(设计)人: | 林正直;东条健太;楠本哲生 | 申请(专利权)人: | DIC株式会社 |
主分类号: | C09K19/18 | 分类号: | C09K19/18;C09K19/14;C09K19/44;C07C43/225;C07C41/20;C07C69/773;C07C67/303 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;李家浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本申请发明所要解决的课题在于,提供用于获得负的Δε大且Δn大的液晶化合物的、通过接触氢还原进行的制造方法、对该制造方法有用的中间体和制造物。用于解决上述课题的方法是,本发明是通过对通式(i)所表示的具有-CH=CH-或-C≡C-作为连接基团的化合物进行接触氢还原来进行的通式(ii)所表示的化合物的制造方法,提供作为该制造方法中的有用的中间体的通式(i)所表示的化合物和通式(ii)所表示的化合物。 | ||
搜索关键词: | 通过 接触 还原 进行 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种通式(ii)所表示的化合物的制造方法,其通过对通式(i)所表示的化合物进行接触氢还原来进行,[化1]
式中,Ri1和Ri2各自独立地表示碳原子数1至12的烷基或碳原子数1至12的烯基,存在于Ri1和Ri2中的1个‑CH2‑或不相邻的2个以上的‑CH2‑各自独立地可被‑O‑或‑S‑取代,此外,存在于Ri1和Ri2中的1个或2个以上的氢原子各自独立地可被氟原子或氯原子取代,Mi1和Mi2各自独立地表示1,4‑亚苯基或萘‑2,6‑二基,存在于Mi1和Mi2中的1个或2个以上的氢原子各自独立地可被氟原子或氯原子取代,Zi1表示‑CH=CH‑或‑C≡C‑,Zi2表示单键、‑OCH2‑、‑CH2O‑、‑CF2O‑、‑OCF2‑、‑COO‑、‑OCO‑、‑CH2CH2‑或‑CF2CF2‑,[化2]
式中,Ri1、Ri2、Mi1、Mi2和Zi1表示与通式(i)中的Ri1、Ri2、Mi1、Mi2和Zi2相同的意思。
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