[发明专利]粒子检测装置及粒子检测方法有效
| 申请号： | 201510354604.0 | 申请日： | 2015-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN105203445B | 公开（公告）日： | 2019-08-06 |
| 发明（设计）人： | 细居智树;小原太辅;古谷雅;衣笠静一郎 | 申请（专利权）人： | 阿自倍尔株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N15/02 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本东京都千代田*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供可以高精度地判别生物粒子与非生物粒子的粒子检测装置及粒子检测方法。粒子检测装置具有：测定被测定粒子上所产生的各自波长不同的第1、第2及第3光的强度的测定值的光测定器(20)；保存非线性分离第1类粒子的类别和第2类粒子的类别的识别边界的边界信息保存部(351)；和根据第1至第3光的强度测定值和识别边界，将被测定粒子分类至第1及第2类粒子的类别中的一个的粒子分类部(301)。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种粒子检测装置，其特征在于，具有：光测定器，测定被测定粒子上所产生的具有第1波长的荧光波段的光的强度测定值、具有第2波长的荧光波段的光的强度测定值及散射光的强度的测定值；边界信息保存部，保存对第1类粒子的类别和第2类粒子的类别进行非线性分离的识别边界，其中所述识别边界是基于对多个种类已知的粒子测定的具有第1波长的荧光波段的光的强度测定值、具有第2波长的荧光波段的光的强度测定值及散射光的强度的测定值确定的，并且所述种类已知的粒子包括第1类粒子和第2类粒子；粒子分类部，根据第1光至第3光的强度的测定值和所述识别边界，将所述被测定粒子分类至所述第1类粒子的类别及所述第2类粒子的类别中的一个；光源，照射宽波段波长的检测光，所述检测光用于照射所述被测定粒子。
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