[发明专利]粒子检测装置及粒子检测方法

权利要求书

1.一种粒子检测装置，其特征在于，具有：

光测定器，测定被测定粒子上所产生的具有第1波长的荧光波段的光的强度测定值、具有第2波长的荧光波段的光的强度测定值及散射光的强度的测定值；

边界信息保存部，保存对第1类粒子的类别和第2类粒子的类别进行非线性分离的识别边界，其中所述识别边界是基于对多个种类已知的粒子测定的具有第1波长的荧光波段的光的强度测定值、具有第2波长的荧光波段的光的强度测定值及散射光的强度的测定值确定的，并且所述种类已知的粒子包括第1类粒子和第2类粒子；

粒子分类部，根据第1光至第3光的强度的测定值和所述识别边界，将所述被测定粒子分类至所述第1类粒子的类别及所述第2类粒子的类别中的一个；

光源，照射宽波段波长的检测光，所述检测光用于照射所述被测定粒子。

2.根据权利要求1所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述第1类粒子及所述第2类粒子中的一个为生物粒子，另一个为非生物粒子。

3.根据权利要求1或2所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述边界信息保存部保存包含所述识别边界的三维坐标系。

4.根据权利要求3所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述三维坐标系以三维表表示。

5.根据权利要求4所述的粒子检测装置，其特征在于，

在由所述第1光、所述第2光及所述第3光的强度所确定的所述三维表的各单元格内，附有所述第1类粒子的类别的标识符、或所述第2类粒子的类别的标识符。

6.根据权利要求1或2所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述识别边界由以所述第1光至所述第3光的强度为变量的多元函数确定。

7.根据权利要求6所述的粒子检测装置，其特征在于，

所述多元函数通过支持向量机得到。

8.根据权利要求1或2所述的粒子检测装置，其特征在于，还具有：

劣化信息记录部，记录所述光测定器的劣化信息；和

校正部，根据所述劣化信息，校正所述第1光的强度、所述第2光的强度、以及所述第3光的强度的测定值中的至少一个。

9.根据权利要求1或2所述的粒子检测装置，其特征在于，还具有：

劣化信息记录部，记录所述光测定器的劣化信息；和

校正部，根据所述劣化信息，校正所述识别边界。

10.一种粒子检测方法，其特征在于，包含以下步骤：

用光源照射的宽波段波长的检测光照射被测定粒子；

测定被测定粒子上所产生的各自波长不同的第1光、第2光及第3光的强度的测定值；

准备对第1类粒子的类别和第2类粒子的类别进行非线性分离的识别边界，其中所述识别边界是基于对多个种类已知的粒子测定的具有第1波长的荧光波段的光的强度测定值、具有第2波长的荧光波段的光的强度测定值及散射光的强度的测定值确定的，并且所述种类已知的粒子包括第1类粒子和第2类粒子；

根据所述第1光至所述第3光的强度的测定值和所述识别边界，将所述被测定粒子分类至所述第1类粒子的类别及所述第2类粒子的类别中的一个；其中

所述第1光及所述第2光为荧光波段的光，所述第3光为散射光。

11.根据权利要求10所述的粒子检测方法，其特征在于，

所述第1类粒子及所述第2类粒子中的一个为生物粒子，另一个为非生物粒子。

12.根据权利要求10或11所述的粒子检测方法，其特征在于，

所述识别边界包含在三维坐标系内。

13.根据权利要求12所述的粒子检测方法，其特征在于，

所述三维坐标系以三维表表示。