[发明专利]粒子检测装置及粒子检测方法

说明书

本发明提供可以高精度地判别生物粒子与非生物粒子的粒子检测装置及粒子检测方法。粒子检测装置具有：测定被测定粒子上所产生的各自波长不同的第1、第2及第3光的强度的测定值的光测定器(20)；保存非线性分离第1类粒子的类别和第2类粒子的类别的识别边界的边界信息保存部(351)；和根据第1至第3光的强度测定值和识别边界，将被测定粒子分类至第1及第2类粒子的类别中的一个的粒子分类部(301)。

技术领域

本发明涉及检测技术，涉及粒子检测装置及粒子检测方法。

背景技术

在生物超净间等超净间(clean room)中，使用粒子检测装置，检测并记录飞散的微生物粒子和非微生物粒子(例如，参照专利文献1及非专利文献1)。根据粒子的检测结果，可以掌握超净间的空调设备的劣化情况。此外，有时也会对在超净间制造的产品附加超净间内的粒子的检测记录作为参考资料。光学式的粒子检测装置，例如，吸引超净间中的气体，向吸引气体照射光。气体中含有微生物粒子或非微生物粒子的话，被光照射到的粒子就会发出荧光、或者在粒子上产生散射光。因此，通过检测荧光和散射光，可以检测气体中所含的微生物粒子和非微生物粒子的数量和大小等。此外，除超净间外，也希望有技术可以正确检测流体中的粒子(例如，参照专利文献2)。

粒子发出的荧光强度，有时会根据粒子的种类而不同。此外，粒子上产生的散射光的强度有时也会根据粒子的种类而不同。因此，有提案提出，根据荧光的强度及散射光的强度，判断粒子为生物粒子还是非生物粒子的方法(例如，参照专利文献3)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1日本特开2011-83214号公报

专利文献2日本特开平8-29331号公报

专利文献3美国专利申请公开第2013/0077087号说明书

非专利文献

非专利文献1长谷川伦男等，《気中微生物リアルタイム検出技術とその応用(气体中微生物实时检测技术与其应用)》，株式会社山武，azbil Technical Review(阿自倍尔技术综述)2009年12月号，第2-7页，2009年

发明内容

发明要解决的课题

本发明的目的之一是提供可以高精度地判别生物粒子与非生物粒子的粒子检测装置及粒子检测方法。

用于解决课题的手段

根据本发明的方式，提供一种粒子检测装置，具有：(a)光测定器，测定被测定粒子上所产生的各自波长不同的第1光的强度的测定值、第2光的强度的测定值及第3光的强度的测定值；(b)边界信息保存部，保存对第1类粒子的类别和第2类粒子的类别进行非线性分离的识别边界；(c)粒子分类部，根据第1光至第3光的强度的测定值和识别边界，将被测定粒子分类至第1类粒子的类别及第2类粒子的类别中的一个。

上述粒子检测装置中，可以是第1及第2光为荧光波段的光、第3光为散射光。此外，可以是第1及第2类粒子中的一个为生物粒子，另一个为非生物粒子。

上述粒子检测装置中，可以由边界信息保存部保存包含识别边界的三维坐标系。三维坐标系可以用三维表表示。此外，可以在由第1、第2及第3光强度所确定的三维表的各单元格内，附有第1类粒子的类别的标识符、或第2类粒子的类别的标识符。识别边界可以由以第1至第3光强度为变量的多元函数确定。多元函数可以通过支持向量机得到。

上述粒子检测装置还可以具备有：记录光测定器的劣化信息的劣化信息记录部；根据劣化信息，校正第1光的强度、第2光的强度、以及第3光的强度的测定值中的至少一个的校正部。或者，上述粒子检测装置还可以具备有：记录光测定器的劣化信息的劣化信息记录部；根据劣化信息，校正识别边界的校正部。