[发明专利]挤压电阻及其制造方法有效
| 申请号: | 201510306765.2 | 申请日: | 2015-06-05 |
| 公开(公告)号: | CN104993050B | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
| 发明(设计)人: | 姚国亮;张邵华;吴建兴 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L49/02 | 分类号: | H01L49/02 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 张振军 |
| 地址: | 310012*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | 本发明提供了一种挤压电阻及其制造方法,所述挤压电阻包括第一掺杂类型的半导体衬底;第二掺杂类型的外延层,位于所述半导体衬底上,所述第二掺杂类型与第一掺杂类型相反;第二掺杂类型的高压阱,位于所述外延层内;第二掺杂类型的深阱,位于所述高压阱内;第一掺杂类型的第一阱,与所述高压阱并列地位于所述外延层内;漏极欧姆接触区,位于所述深阱内;挤压电阻欧姆接触区,位于所述外延层内。本发明的挤压电阻能够容易地与高压晶体管等器件集成,有利于节省版图面积,降低成本。 | ||
| 搜索关键词: | 挤压 电阻 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种挤压电阻,其特征在于,包括:第一掺杂类型的半导体衬底;第一掺杂类型的埋层,位于所述半导体衬底内;第二掺杂类型的外延层,位于所述半导体衬底上且覆盖所述埋层,所述第二掺杂类型与第一掺杂类型相反;第二掺杂类型的高压阱,位于所述外延层内;第二掺杂类型的深阱,位于所述高压阱内;第一掺杂类型的第一阱,与所述高压阱并列地位于所述外延层内;漏极欧姆接触区,位于所述深阱内;挤压电阻欧姆接触区,位于所述外延层内。
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