[发明专利]AMOLED背板的制作方法及其结构在审

专利信息
申请号: 201510230419.0 申请日: 2015-05-07
公开(公告)号: CN104810382A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 徐源竣 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32;H01L27/12
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种AMOLED背板的制作方法及其结构,该方法通过将驱动TFT的漏极充当AMOLED的阳极,与现有技术相比,省去了平坦层和阳极层的制作过程,同时通过一道半色调光罩制程形成像素定义层与光阻间隔物,使得本发明的AMOLED背板的制作方法只需要6道光罩制程,与现有技术相比节约了3道光罩制程,有效简化了制程,提高了生产效率,节省成本。本发明的AMOLED背板结构,结构简单,易于制作,且成本低。
搜索关键词: amoled 背板 制作方法 及其 结构
【主权项】:
一种AMOLED背板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供基板(1),所述基板(1)包括开关TFT区域、存储电容区域、及驱动TFT区域,在所述基板(1)上沉积缓冲层(2);步骤2、在所述缓冲层(2)上沉积非晶硅层,并通过结晶制程使所述非晶硅层结晶、转变为多晶硅层,再通过一道光罩制程对所述多晶硅层进行图案化处理,分别形成位于开关TFT区域的第一多晶硅段(31)、位于驱动TFT区域的第二多晶硅段(32)、及位于存储电容区域的第三多晶硅段(33);步骤3、在所述第一多晶硅段(31)、第二多晶硅段(32)、第三多晶硅段(33)、及缓冲层(2)上沉积栅极绝缘层(4);步骤4、在所述栅极绝缘层(4)上沉积第一光阻层,并通过一道光罩制程图案化该第一光阻层,形成光阻层(5);所述光阻层(5)遮蔽所述第一多晶硅段(31)、及第二多晶硅段(32)的中部,不遮蔽所述第三多晶硅段(33);以所述光阻层(5)为遮蔽层,对所述第一多晶硅段(31)、第二多晶硅段(32)、及第三多晶硅段(33)进行P型重掺杂,从而在所述第一多晶硅段(31)与第二多晶硅段(32)的两侧、及整个第三多晶硅段(33)上形成P型重掺杂区域;步骤5、除去所述光阻层(5),在所述栅极绝缘层(4)上沉积第一金属层并通过一道光罩制程图案化该第一金属层,分别形成位于开关TFT区域的第一栅极(61)、位于驱动TFT区域的第二栅极(62)、及位于存储电容区域的金属电极(63);步骤6、在所述第一栅极(61)、第二栅极(62)、金属电极(63)、及栅极绝缘层(4)上沉积层间绝缘层(7),并通过一道光罩制程在所述层间绝缘层(7)、及栅极绝缘层(4)上分别对应所述第一多晶硅段(31)、及第二多晶硅段(32)两端的P型重掺杂区域上方形成第一过孔(71);步骤7、在所述层间绝缘层(7)上沉积一导电薄膜,并通过一道光罩制程图案化该导电薄膜,形成位于开关TFT区域的第一源极(72)与第一漏极(73)、位于驱动TFT区域的第二源极(74)与第二漏极(75),其中,所述第二漏极(75)延伸至存储电容区域,并充当AMOLED的阳极;所述第一源极(72)、第一漏极(73)、第二源极(74)、及第二漏极(75)分别经由所述第一过孔(71)与所述第一多晶硅段(31)、及第二多晶硅段(32)两端的P型重掺杂区域相接触;步骤8、在所述第一源极(72)、第一漏极(73)、第二源极(74)、第二漏极(75)、及层间绝缘层(7)上依次沉积第二光阻层(80)与第三光阻层(90),并通过一道半色调光罩制程同时对该第二光阻层(80)与第三光阻层(90)进行图案化处理,形成像素定义层(8)、及光阻间隔物(9),所述像素定义层(8)上形成第二过孔(81),以暴露出所述第二漏极(75)。
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