[发明专利]用于以荧光显微术观察试样的方法

摘要

一种以荧光显微术观察试样的方法，应用如下的显微镜，其对通过照明光程的试样以激发光束照明并且沿着光轴在像场中成像到照相机芯片上，照明光程具有用于选择性地进行目标区域照明的可调整的光阑，将试样上的区域选为目标区域，将用于选择性地进行目标区域照明的可调整的光阑以如下方式调整：使得试样的处在选出的区域之外的部分未被以激发光束照明，应用如下的显微镜，其在照明光程中具有照明光阑，照明光阑具有能够调整的开口尺寸和固定而置的开口中心，以便将在试样上被照明的场与能够更换的照相机芯片的尺寸相匹配，照明场光阑用作选择性地进行目标区域照明的能够调整的光阑，方式为，将试样和光轴以如下方式相对移位：所选出的区域与开口中心重叠，照明场光阑的开口尺寸被以如下方式调整，使得所选出的区域被照明并且试样的处在所选出的区域以外的部分未被照明。

主权项

一种以荧光显微术观察试样(P)的方法，其中，应用如下的显微镜(1)，所述显微镜对通过照明光程(7)的试样(P)以激发光束照明并且沿着光轴(OA)在像场(13)中成像到照相机芯片(12)上，其中，照明光程(7)具有用于选择性地进行目标区域照明的能够调整的光阑，在所述像场(13)内部，将所述试样(P)上的区域(14)选为目标区域，以及将所述用于选择性地进行目标区域照明的能够调整的光阑以如下方式进行调整：所述试样(P)的处在选出的区域(14)之外的部分不被以激发光束照明，其特征在于，应用如下的显微镜(1)，所述显微镜在照明光程(7)中具有照明光阑(11)，所述照明光阑具有能够调整的开口尺寸(15a至15d)和固定而置的开口中心(16)，以便将在所述试样(P)上被照明的场与所述照相机芯片(12)的尺寸相匹配，所述照明场光阑(11)被用作选择性地进行目标区域照明的能够调整的光阑，方式为，将所述试样(P)和光轴(OA)以如下方式相对移位：所述选出的区域(14)与所述开口中心(16)重叠，并且所述照明场光阑(11)的所述开口尺寸(15a至15d)被以如下方式调整，使得所述选出的区域(14)被照明并且所述试样(P)的处在所述选出的区域(14)以外但还处在所述像场(13)中的部分不被照明。