[发明专利]用于以荧光显微术观察试样的方法

权利要求书

1.一种以荧光显微术观察试样(P)的方法，其中，

应用如下的显微镜(1)，所述显微镜对通过照明光程(7)的试样(P)以激发光束照明并且沿着光轴(OA)在像场(13)中成像到照相机芯片(12)上，其中，照明光程(7)具有用于选择性地进行目标区域照明的能够调整的光阑，

在所述像场(13)内部，将所述试样(P)上的区域(14)选为目标区域，以及

将所述用于选择性地进行目标区域照明的能够调整的光阑以如下方式进行调整：所述试样(P)的处在选出的区域(14)之外的部分不被以激发光束照明，

其特征在于，

应用如下的显微镜(1)，所述显微镜在照明光程(7)中具有照明光阑(11)，所述照明光阑具有能够调整的开口尺寸(15a至15d)和固定而置的开口中心(16)，以便将在所述试样(P)上被照明的场与所述照相机芯片(12)的尺寸相匹配，

所述照明场光阑(11)被用作选择性地进行目标区域照明的能够调整的光阑，方式为，将所述试样(P)和光轴(OA)以如下方式相对移位：所述选出的区域(14)与所述开口中心(16)重叠，并且所述照明场光阑(11)的所述开口尺寸(15a至15d)被以如下方式调整，使得所述选出的区域(14)被照明并且所述试样(P)的处在所述选出的区域(14)以外但还处在所述像场(13)中的部分不被照明。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，应用如下的显微镜(1)，所述显微镜的照明场光阑(11)是在宽度和高度上能够调整的矩形光阑或者在直径上能够调整的虹彩光阑。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，获知或者说测定所述选出的区域(14)的最大伸展范围，并且所述试样(P)以如下方式相对移位，使得所述最大伸展范围的中心处在开口中心(16)上。

4.根据前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，所述选出的区域(14)以宽度为0.3mm至0.8mm的缓冲区(17)扩宽，之后才对所述照明场光阑(11)的开口尺寸(15a至15d)加以调整。

5.根据前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，应用如下的显微镜(1)，所述显微镜具有能够以马达驱动调整的照明场光阑(11)和控制装置，所述控制装置给用户显示出所述试样(P)的预览图像，提供针对所述目标区域的选取可能性，并且自动执行试样相对推移和照明场光阑调整。