[发明专利]一种光线入射角度检测方法

摘要

本发明涉及光线传感器，特别涉及一种光线入射角度检测装置及方法。本发明的是通过以下技术方案得以实现的一种光线入射角度检测方法，包括（1）设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面;（2）沿入射光的投射方向，其中一个光敏器件在另一个光敏器件受光面所在平面形成投影；（3）其中一个光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态，另一个光敏器件的受光面的实际受光面积随入射光线的角度变化而变化；（4）检测两个光敏器件的电流值；（5）应用公式得出光线入射角度。本发明能简单有效的检测光线入射角度。

主权项

一种利用光线入射角度检测装置检测入射角的方法，其特征在于，所述光线入射角度检测装置包括壳体、设于所述壳体且受光面相互平行的两个光敏器件；且其中一个光敏器件能够对另一个光敏器件的受光面形成遮挡，该检测装置配合有如下光线入射角度检测方法：首先，检测两个光敏器件的电流值I1及I2；其次，应用公式S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；K1=K2；Tanα=x/[L重叠‑（L1‑L1实际）]；S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；L重叠为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；α为入射光线的入射角度，或者该检测装置配合有如下另一种光线入射角度检测方法：首先，检测两个光敏器件的电流值I1及I2；其次，应用公式S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；K1=K2；Tanα=x/（L2+ L1实际）；S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；α为入射光线的入射角度；从而得出入射角度α。