[发明专利]一种光线入射角度检测方法有效

专利信息
申请号: 201510106944.1 申请日: 2015-03-12
公开(公告)号: CN104729456B 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 凌杨;李金鹏;齐洋;周建;王迪;张小平 申请(专利权)人: 湖州佳格电子科技股份有限公司
主分类号: G01C1/00 分类号: G01C1/00
代理公司: 湖州金卫知识产权代理事务所(普通合伙)33232 代理人: 裴金华
地址: 313000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 光线 入射 角度 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种利用光线入射角度检测装置检测入射角的方法,其特征在于,所述光线入射角度检测装置包括壳体、设于所述壳体且受光面相互平行的两个光敏器件;且其中一个光敏器件能够对另一个光敏器件的受光面形成遮挡,该检测装置配合有如下光线入射角度检测方法:首先,检测两个光敏器件的电流值I1及I2;其次,应用公式

S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2

K1=K2

Tanα=x/[L重叠-(L1-L1实际)];

S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积,S2为另一个光敏器件的受光面积,该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态;

K1为其中一个光敏器件的感光系数;K2为另一个光敏器件的感光系数,两个光敏器件的感光系数相同;

L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度,L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度;

L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度,该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态;

L重叠为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度,且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面;

x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离;

α为入射光线的入射角度,

或者该检测装置配合有如下另一种光线入射角度检测方法:首先,检测两个光敏器件的电流值I1及I2;其次,应用公式

S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2

K1=K2

Tanα=x/(L2+ L1实际);

S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积,S2为另一个光敏器件的受光面积,该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态;

K1为其中一个光敏器件的感光系数;K2为另一个光敏器件的感光系数,两个光敏器件的感光系数相同;

L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度,L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度,该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态;

x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离;

α为入射光线的入射角度;

从而得出入射角度α。

2.根据权利要求1所述的一种利用光线入射角度检测装置检测入射角的方法,其特征在于,在垂直于所述光敏器件受光面方向上,两个所述光敏器件存在相互重叠的区域。

3.根据权利要求1所述的一种利用光线入射角度检测装置检测入射角的方法,其特征在于,在垂直于所述光敏器件受光面方向上,两个所述光敏器件不存在相互重叠的区域。

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