[发明专利]锁相环锁定时间的测量方法

摘要

本发明提供了一种锁相环锁定时间的测量方法，包括以下步骤将锁相环分别在第一频率和第二频率上锁定，ATE测试设备测量所述锁相环在所述第一频率上的第一输出电压，以及在所述第二频率上的第二输出电压；使得所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率，所述ATE测试设备采集并处理所述锁相环在跳变过程中的输出电压；根据所述ATE测试设备对所述输出电压的处理结果计算出所述锁相环的锁定时间。无需外挂分立仪器，直接利用ATE测试设备获取所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率过程中的输出电压，以及对所述输出电压的处理结果直接计算出所述锁相环的锁定时间，大大提高了测试效率。

主权项

一种锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：将锁相环在第一频率上锁定，ATE测试设备测量所述锁相环在所述第一频率上的第一输出电压；将所述锁相环在第二频率上锁定，所述ATE测试设备测量所述锁相环在所述第二频率上的第二输出电压；使得所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率，所述ATE测试设备采集并处理所述锁相环在跳变过程中的输出电压；根据所述ATE测试设备对所述输出电压的处理结果计算出所述锁相环的锁定时间；所述ATE测试设备采集并处理所述锁相环在跳变过程中的输出电压包括：所述ATE测试设备测量所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率过程中的输出电压；对所述输出电压进行滤波处理；所述ATE测试设备按照一第一采样频率对进行过滤波处理后的所述输出电压进行采样，并将相应的采样点存储在一数组中；在所述数组中找出所述锁相环跳变过程中开始跳变和结束跳变分别对应的采样点。