[发明专利]锁相环锁定时间的测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，尤其是一种锁相环锁定时间的测量方法。

背景技术

锁相环主要包括分频器、鉴相器、环路滤波器、压控振荡器等，其锁定时间指指锁相环从一个指定频率跳变到另一个指定频率(在给定的频率误差范围内)所用的时间，是表征所述锁相环性能的一个重要参数，它决定了所述锁相环的输出能从一个频点快速跳变到另一个频点的能力。在所述锁相环从一个指定频率跳变到另一个指定频率的过程中，所述锁相环稳定输出的控制电压也相应发生跳变。

现有技术中对所述锁相环锁定时间的测量是通过分立仪器进行测量的。一种方法是直接采用所述分立仪器对所述锁相环进行测量。也就是说，所述锁相环的锁定时间可以采用频谱仪直接进行测量，或者采用示波器对锁相环的两次频点所对应输出电压的改变时间进行测试。这种方法测试时间长，测试结果需要人工读取，且自动化程度不高，通常只适用于实验室验证测试。

另一种方法是采用ATE测试设备外挂分立仪器进行测试，这种方法通常应用于量产中。所述ATE测试设备与分立仪器通过GPIB或者USB接口进行通信，所述分立仪器测试完成后，由所述ATE测试设备从所述分立仪器读回测试结果，基本可以实现自动化测试。但是多工位并行测试能力差，且所述ATE测试设备与所述分立仪器接口通讯时间较长，导致测试效率低下。所述ATE测试设备外挂所述分立仪器时，所述ATE测试设备的射频电缆与被测芯片连接不便，尤其在进行晶圆测试时。

随着射频芯片的迅速发展，存在很大的射频芯片锁相环锁定时间的测试需要，但是采用现有技术，无法高效率的进行大规模的量产测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种锁相环锁定时间的测量方法，以解决测试效率低的问题。

为了达到上述目的，本发明提供了一种锁相环锁定时间的测量方法，包括以下步骤：

将锁相环在第一频率上锁定，ATE测试设备测量所述锁相环在所述第一频率上的第一输出电压；

将所述锁相环在第二频率上锁定，所述ATE测试设备测量所述锁相环在所述第二频率上的第二输出电压；

使得所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率，所述ATE测试设备采集并处理所述锁相环在跳变过程中的输出电压；

根据所述ATE测试设备对所述输出电压的处理结果计算出所述锁相环的锁定时间。

优选的，在上述的锁相环锁定时间的测量方法中，利用所述ATE测试设备的电压测量模块来测量所述第一输出电压和所述第二输出电压。

优选的，在上述的锁相环锁定时间的测量方法中，所述ATE测试设备采集并处理所述锁相环在跳变过程中的输出电压包括以下步骤：

所述ATE测试设备测量所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率过程中的输出电压；

对所述输出电压进行滤波处理；

所述ATE测试设备按照一第一采样频率对进行过滤波处理后的所述输出电压进行采样，并将相应的采样点存储在一数组中；

在所述数组中找出所述锁相环跳变过程中开始跳变和结束跳变分别对应的采样点。

优选的，在上述的锁相环锁定时间的测量方法中，所述ATE测试设备上的电压测量模块测量所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率过程中的电压。

优选的，在上述的锁相环锁定时间的测量方法中，利用所述ATE测试设备上的高精度模拟信号采集模块对所述输出电压进行采样。

优选的，在上述的锁相环锁定时间的测量方法中，所述ATE测试设备对所述输出电压的采样时间大于所述锁相环的预判锁定时间。

优选的，在上述的锁相环锁定时间的测量方法中，在所述数组中找出所述锁相环跳变过程中开始跳变时所对应的采样点的步骤包括：

当所述数组中连续十个采样点所对应的输出电压与所述第一输出电压的差均大于一第一标准值时，所述连续十个采样点中的第一个采样点即为所述锁相环开始跳变时所对应的采样点。

优选的，在上述的锁相环锁定时间的测量方法中，所述第一标准值为1mV。

优选的，在上述的锁相环锁定时间的测量方法中，在所述数组中找出所述锁相环跳变过程中跳变结束时所对应的采样点的步骤包括：

当所述数组中连续十个采样点所对应的输出电压与所述第二输出电压的差均小于一第二标准值时，所述连续十个采样点中的第一个采样点即为所述锁相环跳变结束时所对应的采样点。

优选的，在上述的锁相环锁定时间的测量方法中，所述第二标准值为1mV。