[发明专利]锁相环锁定时间的测量方法

权利要求书

1.一种锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

将锁相环在第一频率上锁定，ATE测试设备测量所述锁相环在所述第一频率上的第一输出电压；

将所述锁相环在第二频率上锁定，所述ATE测试设备测量所述锁相环在所述第二频率上的第二输出电压；

使得所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率，所述ATE测试设备采集并处理所述锁相环在跳变过程中的输出电压；

根据所述ATE测试设备对所述输出电压的处理结果计算出所述锁相环的锁定时间；

所述ATE测试设备采集并处理所述锁相环在跳变过程中的输出电压包括：

所述ATE测试设备测量所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率过程中的输出电压；

对所述输出电压进行滤波处理；

所述ATE测试设备按照一第一采样频率对进行过滤波处理后的所述输出电压进行采样，并将相应的采样点存储在一数组中；

在所述数组中找出所述锁相环跳变过程中开始跳变和结束跳变分别对应的采样点。

2.如权利要求1所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，利用所述ATE测试设备的电压测量模块来测量所述第一输出电压和所述第二输出电压。

3.如权利要求1所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，所述ATE测试设备上的电压测量模块测量所述锁相环从所述第一频率跳变到所述第二频率过程中的电压。

4.如权利要求1所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，利用所述ATE测试设备上的高精度模拟信号采集模块对所述输出电压进行采样。

5.如权利要求1所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，所述ATE测试设备对所述输出电压的采样时间大于所述锁相环的预判锁定时间。

6.如权利要求1所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，在所述数组中找出所述锁相环跳变过程中开始跳变时所对应的采样点的步骤包括：

当所述数组中连续十个采样点所对应的输出电压与所述第一输出电压的差均大于一第一标准值时，所述连续十个采样点中的第一个采样点即为所述锁相环开始跳变时所对应的采样点。

7.如权利要求6所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，所述第一标准值为1mV。

8.如权利要求1所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，在所述数组中找出所述锁相环跳变过程中跳变结束时所对应的采样点的步骤包括：

当所述数组中连续十个采样点所对应的输出电压与所述第二输出电压的差均小于一第二标准值时，所述连续十个采样点中的第一个采样点即为所述锁相环跳变结束时所对应的采样点。

9.如权利要求8所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，所述第二标准值为1mV。

10.如权利要求1所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，所述锁相环的锁定时间＝(结束跳变时对应的采样点-开始跳变时对应的采样点)/第一采样频率。

11.如权利要求1所述的锁相环锁定时间的测量方法，其特征在于，所述第一频率与所述第二频率不相等。